プロセシングプラズマ中の電界のレーザー計測法に関する研究

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著者

    • 山形, 幸彦 ヤマガタ, ユキヒコ

書誌事項

タイトル

プロセシングプラズマ中の電界のレーザー計測法に関する研究

著者名

山形, 幸彦

著者別名

ヤマガタ, ユキヒコ

学位授与大学

九州大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第2827号

学位授与年月日

1991-03-27

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 記号の説明 / p1 (0005.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0009.jp2)
  4. 1.1 放電プラズマの研究分野 / p1 (0009.jp2)
  5. 1.2 プロセシングプラズマ中の電界計測の必要性 / p5 (0013.jp2)
  6. 1.3 本研究の内容 / p7 (0015.jp2)
  7. 第2章 グロー放電プラズマ中の各種電界計測法とレーザー計測法の特長 / p9 (0017.jp2)
  8. 2.1 電界計測法の比較 / p9 (0017.jp2)
  9. 2.2 プロセシングプラズマ中の電界のシュタルク効果によるレーザー計測の特長と問題点 / p11 (0019.jp2)
  10. 2.3 プロセシングプラズマ中に存在する粒子種 / p13 (0021.jp2)
  11. 2.4 本研究の課題 / p15 (0023.jp2)
  12. 第3章 レーザーオプトガルバノ法による電界計測法の開発 / p16 (0024.jp2)
  13. 3.1 序論 / p16 (0024.jp2)
  14. 3.2 レーザーオプトガルバノ法による電界検出下限の改善 / p18 (0026.jp2)
  15. 3.3 レーザーオプトガルバノ法による電界計測の一般化の問題点 / p33 (0041.jp2)
  16. 3.4 結論 / p37 (0045.jp2)
  17. 第4章 レーザー蛍光法による電界計測法の開発 / p39 (0047.jp2)
  18. 4.1 序論 / p39 (0047.jp2)
  19. 4.2 レーザー蛍光法による電界計測の較正法の開発 / p40 (0048.jp2)
  20. 4.3 各種放電条件下におけるレーザー蛍光法による電界計測の考察 / p55 (0063.jp2)
  21. 4.4 結論 / p70 (0078.jp2)
  22. 第5章 結論 / p72 (0080.jp2)
  23. 参考文献 / p75 (0083.jp2)
  24. 謝辞 / p81 (0089.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000075533
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000075732
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000239847
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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