分子集合体超薄膜の表面修飾による電極界面の機能化

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著者

    • 澤口, 隆博 サワグチ, タカヒロ

書誌事項

タイトル

分子集合体超薄膜の表面修飾による電極界面の機能化

著者名

澤口, 隆博

著者別名

サワグチ, タカヒロ

学位授与大学

東北大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第4423号

学位授与年月日

1991-03-28

注記・抄録

博士論文

Tohoku University

博士

工学

目次

  1. 《目次》 / p1 (0006.jp2)
  2. 第1章 序論 / (0014.jp2)
  3. 1.1 はじめに / p1 (0016.jp2)
  4. 1.2 界面と電気化学 / p2 (0017.jp2)
  5. 1.3 界面の機能化と修飾電極 / p4 (0019.jp2)
  6. 1.4 有機超薄膜の機能と応用 / p8 (0023.jp2)
  7. 1.5 分子集合体と分子レベルの表面デザイン / p14 (0029.jp2)
  8. 1.6 本論文の目的 / p16 (0031.jp2)
  9. References / p18 (0033.jp2)
  10. 第2章 実験および実験装置 / (0040.jp2)
  11. 2.1 緒言 / p25 (0042.jp2)
  12. 2.2 電気化学実験周辺機器 / p26 (0043.jp2)
  13. 2.3 電気化学測定法及び測定装置 / p34 (0051.jp2)
  14. 2.4 LB膜の作製 / p38 (0055.jp2)
  15. 2.5 各種機器分析装置 / p40 (0057.jp2)
  16. 2.6 試薬 / p42 (0059.jp2)
  17. References / p49 (0066.jp2)
  18. 第3章 ポルフィリン分子会合体による電極表面の機能化 / (0068.jp2)
  19. 3.1 緒言 / p51 (0070.jp2)
  20. 3.2 実験 / p59 (0078.jp2)
  21. 3.3 結果と考察 / p63 (0082.jp2)
  22. 3.4 結言 / p101 (0120.jp2)
  23. References / p103 (0122.jp2)
  24. 第4章 チオール類による電極表面の単分子修飾とキャラクタリゼーション / (0126.jp2)
  25. 4.1 緒言 / p106 (0128.jp2)
  26. 4.2 実験 / p111 (0133.jp2)
  27. 4.3 結果と考察 / p114 (0136.jp2)
  28. 4.4 結言 / p143 (0165.jp2)
  29. References / p144 (0166.jp2)
  30. 第5章 自己集合型チオール単分子膜の機能化 / (0168.jp2)
  31. 5.1 緒言 / p146 (0170.jp2)
  32. 5.2 自己集合型チオール単分子膜のブロッキング効果 / p149 (0173.jp2)
  33. 5.3 長鎖アルカンチオール添加によるステアリン酸LB単分子膜の安定化 / p180 (0204.jp2)
  34. 5.4 疎水性相互作用による長鎖アルカンチオール単分子膜の機能化 / p185 (0209.jp2)
  35. 5.5 金属ポルフィリン類配位によるチオール単分子膜の機能化 / p196 (0220.jp2)
  36. 5.5 結言 / p201 (0225.jp2)
  37. References / p203 (0227.jp2)
  38. 第6章 分子集合体超薄膜を用いた電気化学デバイス / (0228.jp2)
  39. 6.1 緒言 / p204 (0230.jp2)
  40. 6.2 酵素単分子固定化電極による基質のセンシング / p206 (0232.jp2)
  41. 6.3 ルテニウムビピリジル錯体のECLによるシュウ酸イオンのセンシング / p223 (0249.jp2)
  42. 6.4 結言 / p242 (0268.jp2)
  43. References / p243 (0269.jp2)
  44. 第7章 総括 / p246 (0274.jp2)
  45. Appendix/A/:サイクリックボルタンメトリ-(CV)法 / p250 (0280.jp2)
  46. Appendix/B/:回転リング-ディスク電極(RRDE)法 / p255 (0286.jp2)
  47. Appendix/C/:マイクロ電極のCV理論 / p259 (0290.jp2)
  48. Appendix/D/:マイクロ電極集合体(MEA)のCV理論 / p262 (0294.jp2)
  49. Appendix/E/:電子のトンネリング理論 / p271 (0304.jp2)
  50. 謝辞 / p274 (0308.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000076803
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000077006
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000241117
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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