アルミニウム合金の時効析出におよぼす電流印加の影響

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著者

    • 小野寺, 幸雄 オノデラ, ユキオ

書誌事項

タイトル

アルミニウム合金の時効析出におよぼす電流印加の影響

著者名

小野寺, 幸雄

著者別名

オノデラ, ユキオ

学位授与大学

東北大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第5432号

学位授与年月日

1991-02-13

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  3. 1.1 まえがき 個体反応に対する電場効果のこれまでの一般的研究の概観 / p1 (0007.jp2)
  4. 1.2 工学的な問題 IC配線材、異種材料の接合(陽極接合)、エレクトロエピタクシイ / p3 (0009.jp2)
  5. 1.3 基礎的な問題 エレクトロマイグレーションの駆動力、金属中の不純物イオンの自由電子によるスクリーニング / p7 (0013.jp2)
  6. 1.4 本研究に直接関連した従来の研究 Al-Cu合金の時効析出、Fe-C合金の時効析出 / p14 (0020.jp2)
  7. 1.5 本研究の目的と意義 / p21 (0027.jp2)
  8. 第2章 実験方法 / p39 (0045.jp2)
  9. 2.1 試料と実験装置 / p39 (0045.jp2)
  10. 2.2 実験結果の解析方法 / p47 (0053.jp2)
  11. 第3章 実験結果 / p67 (0073.jp2)
  12. 3.1 準安定相(低温時効)の析出に及ぼす印加電流の影響 / p67 (0073.jp2)
  13. 3.2 安定相(高温時効)の析出に及ぼす電流印加の影響 / p83 (0089.jp2)
  14. 3.3 純アルミニウムと2、3のアルミ合金の電気抵抗温度曲線の電流密度依存性(第3章2節の実験結果を説明するために提案した機構を裏付け) / p95 (0101.jp2)
  15. 第4章 考察 / p166 (0172.jp2)
  16. 4.1 低温時効における通電効果 / p166 (0172.jp2)
  17. 4.2 高温時効における通電効果 / p185 (0191.jp2)
  18. 第5章 結論 / p219 (0225.jp2)
  19. 謝辞 / p224 (0230.jp2)
  20. 付録 / p225 (0231.jp2)
  21. A.1 線形安定解析法による外部電場印加時の析出反応の挙動の検討(第4章 4.2.2) / p225 (0231.jp2)
  22. A.2 Fe-0.19at%C合金の低温時効にたいするAC印加の影響(第3章 3.1.2) / p229 (0235.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000076872
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000077075
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000241186
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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