高温超伝導酸化物の変調構造の電子顕微鏡による研究

この論文をさがす

著者

    • 井上, 靖秀 イノウエ, ヤスヒデ

書誌事項

タイトル

高温超伝導酸化物の変調構造の電子顕微鏡による研究

著者名

井上, 靖秀

著者別名

イノウエ, ヤスヒデ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第2179号

学位授与年月日

1991-03-31

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / (0004.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0006.jp2)
  4. 第2章 実験方法および実験装置 / p8 (0010.jp2)
  5. 第3章 Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-O系におけるPb置換効果 / p13 (0012.jp2)
  6. 1.High-Tc相の単相化のためのPb置換の影響 / p13 (0012.jp2)
  7. 1-1 緒言 / p13 (0012.jp2)
  8. 1-2 実験 / p15 (0013.jp2)
  9. 1-3 実験結果および考察 / p19 (0015.jp2)
  10. 1-4 結言 / p31 (0021.jp2)
  11. 2.High-Tc相の変調構造へのPb置換の影響 / p32 (0022.jp2)
  12. 2-1 緒言 / p32 (0022.jp2)
  13. 2-2 実験 / p32 (0022.jp2)
  14. 2-3 実験結果 / p32 (0022.jp2)
  15. 2-4 考察 / p37 (0024.jp2)
  16. 2-5 結言 / p43 (0027.jp2)
  17. 3.散漫散乱の観察 / p44 (0028.jp2)
  18. 3-1 緒言 / p44 (0028.jp2)
  19. 3-2 熱散漫散乱理論 / p44 (0028.jp2)
  20. 3-3 実験 / p51 (0031.jp2)
  21. 3-4 実験結果 / p51 (0031.jp2)
  22. 3-5 考察 / p54 (0033.jp2)
  23. 3-6 結言 / p54 (0033.jp2)
  24. 4.参考文献 / p55 (0033.jp2)
  25. 第4章 Bi-Sr-Ca-Y-Cu-O系のY置換による変調構造 / p57 (0034.jp2)
  26. 1.緒言 / p57 (0034.jp2)
  27. 2.実験 / p59 (0035.jp2)
  28. 2-1 試料の作製 / p59 (0035.jp2)
  29. 2-2 検討項目 / p59 (0035.jp2)
  30. 3.実験結果 / p61 (0036.jp2)
  31. 3-1 電気抵抗の測定 / p61 (0036.jp2)
  32. 3-2 X線ディフラクトメータによる測定 / p61 (0036.jp2)
  33. 3-3 透過型電子顕微鏡による観察 / p61 (0036.jp2)
  34. 3-4 XPSによる状態分析 / p77 (0044.jp2)
  35. 3-5 AESによる状態分析 / p86 (0049.jp2)
  36. 4.考察 / p90 (0051.jp2)
  37. 4-1 変調構造解析 / p90 (0051.jp2)
  38. 4-2 変調構造の変化と超伝導特性の関係 / p98 (0055.jp2)
  39. 5.結言 / p100 (0056.jp2)
  40. 6.参考文献 / p101 (0056.jp2)
  41. 第5章 Bi-M-Ca-Cu-O(M:Nd,La,Pr)系のM置換による変調構造 / p103 (0057.jp2)
  42. 1. 緒言 / p103 (0057.jp2)
  43. 2. 実験 / p105 (0058.jp2)
  44. 2-1 試料の作製 / p105 (0058.jp2)
  45. 2-2 検討項目 / p105 (0058.jp2)
  46. 3.実験結果 / p105 (0058.jp2)
  47. 3-1 電気抵抗の測定 / p105 (0058.jp2)
  48. 3-2 X線ディフラクトメータによる測定 / p107 (0059.jp2)
  49. 3-3 透過型電子顕微鏡による観察 / p114 (0063.jp2)
  50. 3-4 XPSによる状態分析 / p118 (0065.jp2)
  51. 3-5 AESによる状態分析 / p118 (0065.jp2)
  52. 4.考察 / p127 (0069.jp2)
  53. 5.結言 / p129 (0070.jp2)
  54. 6.参考文献 / p130 (0071.jp2)
  55. 第6章 Y-Ba-Cu-M-O(M:Fe,Co,Ni,Zn)系のM置換による変調構造 / p132 (0072.jp2)
  56. 1.緒言 / p132 (0072.jp2)
  57. 2.実験 / p137 (0074.jp2)
  58. 2-1 試料の作製 / p137 (0074.jp2)
  59. 2-2 検討項目 / p137 (0074.jp2)
  60. 3.実験結果 / p137 (0074.jp2)
  61. 3-1 電気抵抗による試料の同定 / p137 (0074.jp2)
  62. 3-2 X線ディフラクトメータによる同定 / p137 (0074.jp2)
  63. 3-3 透過型電子回折・電子顕微鏡による観察結果 / p142 (0077.jp2)
  64. 4.散漫散乱の起因 / p161 (0086.jp2)
  65. 5.結言 / p162 (0087.jp2)
  66. 6.参考文献 / p164 (0088.jp2)
  67. 第7章 T1-Ba-Ca-Cu-O系の温度変化による変調構造 / p166 (0089.jp2)
  68. 1.緒言 / p166 (0089.jp2)
  69. 2.実験 / p169 (0090.jp2)
  70. 2-1 試料の作製 / p169 (0090.jp2)
  71. 2-2 検討項目 / p169 (0090.jp2)
  72. 3.実験結果 / p169 (0090.jp2)
  73. 3-1 電気抵抗および帯磁率による試料の同定 / p169 (0090.jp2)
  74. 3-2 X線ディフラクトメータによる試料の同定 / p169 (0090.jp2)
  75. 3-3 透過型電子回折・電子顕微鏡による観察結果 / p173 (0092.jp2)
  76. 4.考察 / p178 (0095.jp2)
  77. 5.結言 / p182 (0097.jp2)
  78. 6.参考文献 / p183 (0097.jp2)
  79. 第8章 Nd-Ce-Sr-Cu-O系のCe置換による変調構造 / p185 (0098.jp2)
  80. 1.緒言 / p185 (0098.jp2)
  81. 2.実験 / p187 (0099.jp2)
  82. 2-1 試料の作製 / p187 (0099.jp2)
  83. 2-2 検討項目 / p187 (0099.jp2)
  84. 3.実験結果 / p187 (0099.jp2)
  85. 3-1 X線ディフラクトメータによる測定 / p187 (0099.jp2)
  86. 3-2 帯磁率の測定 / p187 (0099.jp2)
  87. 3-3 酸素量およびホール濃度の測定 / p190 (0101.jp2)
  88. 3-4 透過型電子顕微鏡による観察 / p190 (0101.jp2)
  89. 3-5 AESによる状態分析 / p204 (0108.jp2)
  90. 4.考察 / p204 (0108.jp2)
  91. 5.結言 / p209 (0110.jp2)
  92. 6.参考文献 / p210 (0111.jp2)
  93. 第9章 総括 / p211 (0111.jp2)
  94. 謝辞 / p215 (0113.jp2)
  95. 研究業績目録 / p216 (0114.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000078166
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000078370
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000242480
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ