Microscopic investigation surfaces/interfaces by the scanning tunneling microscope and ballistic electron emission microscope 走査トンネル顕微鏡と弾道電子放射顕微鏡による表面・界面の研究

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著者

    • 長谷川, 幸雄 ハセガワ, ユキオ

書誌事項

タイトル

Microscopic investigation surfaces/interfaces by the scanning tunneling microscope and ballistic electron emission microscope

タイトル別名

走査トンネル顕微鏡と弾道電子放射顕微鏡による表面・界面の研究

著者名

長谷川, 幸雄

著者別名

ハセガワ, ユキオ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第9022号

学位授与年月日

1991-03-29

注記・抄録

博士論文

目次

  1. TABLE OF CONTENTS / p3 (0004.jp2)
  2. ACKNOWLEDGMENTS / p2 (0003.jp2)
  3. ABSTRACT / p5 (0006.jp2)
  4. LIST OF FIGURES / p8 (0009.jp2)
  5. 1.INTRODUCTION / p1 (0016.jp2)
  6. 2.SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(STM) / p5 (0020.jp2)
  7. 2.1 PRINCIPLE OF STM / p5 (0020.jp2)
  8. 2.2 THEORY / p6 (0021.jp2)
  9. 2.3 INSTRUMENTATION OF STM / p17 (0032.jp2)
  10. 3.SCANNING TUNNELING SPECTROSCOPY(STS)ON Si(111)7x7 SURFACE / p39 (0054.jp2)
  11. 3.1 PRINCIPLE OF STS / p39 (0054.jp2)
  12. 3.2 Si(111)7x7 SURFACE / p42 (0057.jp2)
  13. 3.3 STS ON Si(111)7x7 SURFACE / p47 (0062.jp2)
  14. 3.4 COMMENTS ON STS / p57 (0072.jp2)
  15. 4.STM/STS ON ATOMIC-HYDROGEN CHEMISORBED Si(111)7x7 SURFACE / p59 (0074.jp2)
  16. 4.1 INTRODUCTION / p59 (0074.jp2)
  17. 4.2 EXPERIMENTAL / p66 (0081.jp2)
  18. 4.3 RESULTS AND DISCUSSION / p68 (0083.jp2)
  19. 4.4 CONCLUSIONS / p90 (0105.jp2)
  20. 5.BEEM ON NiSi₂/Si(111) INTERFACE / p92 (0107.jp2)
  21. 5.1 BALLISTIC ELECTRON EMISSION MICROSCOPY(BEEM) / p92 (0107.jp2)
  22. 5.2 NiSi₂/Si(111)INTERFACE AND NiSi₂(111)SURFACE / p109 (0124.jp2)
  23. 5.3 BEEM RESULTS ON THE NiSi₂/Si(111)INTERFACE / p134 (0149.jp2)
  24. 5.4 DISCUSSION / p144 (0159.jp2)
  25. 5.5 CONCLUSIONS / p149 (0164.jp2)
  26. 6.CONCLUSIONS / p152 (0167.jp2)
  27. BIBLIOGRAPHY / p154 (0169.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000081780
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000081988
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000246094
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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