放射光走査型X線顕微鏡による微小領域分析に関する研究
この論文にアクセスする
この論文をさがす
著者
書誌事項
- タイトル
-
放射光走査型X線顕微鏡による微小領域分析に関する研究
- 著者名
-
早川, 慎二郎
- 著者別名
-
ハヤカワ, シンジロウ
- 学位授与大学
-
東京大学
- 取得学位
-
工学博士
- 学位授与番号
-
甲第9048号
- 学位授与年月日
-
1991-03-29
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
- 1.X線顕微鏡による物質観察 / p1 (0007.jp2)
- 2 本研究の目的､構成 / p6 (0012.jp2)
- 第1章参照文献 / p8 (0014.jp2)
- 第2章 放射光X線集光光学系 / p12 (0018.jp2)
- 1.序 / p12 (0018.jp2)
- 2.X線集光光学系 / p12 (0018.jp2)
- 3.放射光X線集光光学系の設計 / p27 (0033.jp2)
- 4.期待される性能 / p31 (0037.jp2)
- 5.結論 / p35 (0041.jp2)
- 第2章参照文献 / p36 (0042.jp2)
- 第3章 強力X線微小ビーム / p38 (0044.jp2)
- 1.序 / p38 (0044.jp2)
- 2.放射光ビームライン / p38 (0044.jp2)
- 3.ビームサイズの評価(コンデンサーミラー) / p44 (0050.jp2)
- 4.フォーカシングミラービームサイズ / p49 (0055.jp2)
- 5.フォトンフラックスに関する評価 / p56 (0062.jp2)
- 6.結論 / p59 (0065.jp2)
- 第3章 参照文献 / p61 (0067.jp2)
- 第4章 放射光走査型X線顕微鏡 / p62 (0068.jp2)
- 1.序 / p62 (0068.jp2)
- 2.放射光走査型X線顕微鏡 / p62 (0068.jp2)
- 3.空間分解能 / p66 (0072.jp2)
- 4.蛍光X線顕微鏡 / p68 (0074.jp2)
- 5.結論 / p72 (0078.jp2)
- 第4章参照文献 / p73 (0079.jp2)
- 第5章 微小領域での蛍光X線分析 / p74 (0080.jp2)
- 1.序 / p74 (0080.jp2)
- 2.検出下限 / p74 (0080.jp2)
- 3.蛍光X線法による元素の定量分析 / p80 (0086.jp2)
- 4.補正法を用いる定量分析の応用 / p85 (0091.jp2)
- 5.PIXEとの比較 / p90 (0096.jp2)
- 6.結論 / p95 (0101.jp2)
- 第5章参照文献 / p96 (0102.jp2)
- 第6章 微小領域でのX線吸収端微細構造測定 / p98 (0104.jp2)
- 1.序 / p98 (0104.jp2)
- 2.XAFS測定 / p99 (0105.jp2)
- 3.金属薄膜の測定 / p104 (0110.jp2)
- 4.一次の蛍光X線強度式を用いる解析 / p107 (0113.jp2)
- 5.無限厚の標準試料についての検討 / p111 (0117.jp2)
- 6.不均一試料への応用 / p113 (0119.jp2)
- 7.結論 / p120 (0126.jp2)
- 第6章参照文献 / p120 (0126.jp2)
- 第7章 総括､展望 / p122 (0128.jp2)
- 1.総括 / p122 (0128.jp2)
- 2.展望 / p124 (0130.jp2)
- 謝辞 / p125 (0131.jp2)
- Appendix1 Ptミラー反射率 / p126 (0132.jp2)
- 2 フォトンフラックスの評価 / p129 (0135.jp2)
- 3 2結晶モノクロメーター調整 / p135 (0141.jp2)
- 研究成果 / p136 (0142.jp2)