ソフトウェアのテストに関する研究 : ソフトウェアの仕様変更にかかわるテスト方法

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著者

    • 兼子, 毅 カネコ, タケシ

書誌事項

タイトル

ソフトウェアのテストに関する研究 : ソフトウェアの仕様変更にかかわるテスト方法

著者名

兼子, 毅

著者別名

カネコ, タケシ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第9059号

学位授与年月日

1991-03-29

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0009.jp2)
  3. 1.1 ソフトウェアテストの重要性 / p2 (0010.jp2)
  4. 1.2 ソフトウェアテストの問題点 / p4 (0012.jp2)
  5. 1.3 仕様変更と不具合の発生 / p5 (0013.jp2)
  6. 1.4 本論文の概要 / p8 (0016.jp2)
  7. 1.5 ソフトウェアテストに関する研究史 / p10 (0018.jp2)
  8. 第2章 機能仕様変更に伴う誤りのモード / p19 (0027.jp2)
  9. 2.1 外部機能仕様とその変更の記述 / p20 (0028.jp2)
  10. 2.2 外部機能仕様の変更に伴う修正誤りの記述 / p21 (0029.jp2)
  11. 2.3 外部機能仕様の変更に伴う修正誤りの分類 / p25 (0033.jp2)
  12. 第3章 外部機能仕様の変更履歴に基づく変換・制約要素の抽出 / p38 (0046.jp2)
  13. 3.1 変換の抽出 / p39 (0047.jp2)
  14. 3.2 制約要素の抽出 / p46 (0054.jp2)
  15. 第4章 制約要素の削除・追加の誤りに対するテスト(単独ブロック) / p48 (0056.jp2)
  16. 4.1 誤りの影響に関する定理 / p49 (0057.jp2)
  17. 4.2 誤りの影響が現われる入力域の性質 / p50 (0058.jp2)
  18. 4.3 テストすべき誤りの選択 / p52 (0060.jp2)
  19. 4.4 テスト入力域決定のためのアルゴリズム / p55 (0063.jp2)
  20. 4.5 テストケースの設計例 / p57 (0065.jp2)
  21. 4.6 付録 / p65 (0073.jp2)
  22. 第5章 制約要素の削除・追加の誤りに対するテスト(複数ブロック) / p67 (0075.jp2)
  23. 5.1 誤りの影響に関する定理 / p68 (0076.jp2)
  24. 5.2 誤りの影響が現れる入力域の性質 / p70 (0078.jp2)
  25. 5.3 テストすべき誤りの選択 / p71 (0079.jp2)
  26. 5.4 テスト入力域決定のためのアルゴリズム / p74 (0082.jp2)
  27. 5.5 テスト入力域決定に必要な手数 / p79 (0087.jp2)
  28. 5.6 単独ブロックの場合との関係 / p81 (0089.jp2)
  29. 5.7 付録 / p82 (0090.jp2)
  30. 第6章 最適な「変換」の大きさ / p86 (0094.jp2)
  31. 6.1 変更レベル / p87 (0095.jp2)
  32. 6.2 変更レベル選択の妥当性 / p96 (0104.jp2)
  33. 第7章 有効性の検証 / p98 (0106.jp2)
  34. 7.1 他のブラックボックステストとの比較 / p99 (0107.jp2)
  35. 7.2 あるシステムへの適用例 / p101 (0109.jp2)
  36. 7.3 考察 / p104 (0112.jp2)
  37. 第8章 影響の加法性 / p108 (0116.jp2)
  38. 8.1 誤りの加法性の定義 / p109 (0117.jp2)
  39. 8.2 テスト方法 / p112 (0120.jp2)
  40. 第9章 結論と今後の発展 / p123 (0131.jp2)
  41. 付録 不具合事例 / p126 (0134.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000081817
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000082025
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000246131
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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