Atomic structure and mass transport of ultrathin metal films on vicinal semiconductor surfaces 微傾斜半導体表面における金属超薄膜の原子構造と質量輸送

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著者

    • 呉, 南健 ウー, ナンチェン

書誌事項

タイトル

Atomic structure and mass transport of ultrathin metal films on vicinal semiconductor surfaces

タイトル別名

微傾斜半導体表面における金属超薄膜の原子構造と質量輸送

著者名

呉, 南健

著者別名

ウー, ナンチェン

学位授与大学

電気通信大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

博甲第10号

学位授与年月日

1992-03-23

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p1 (0009.jp2)
  2. 1 Introduction / p1 (0011.jp2)
  3. 1.1 General review of semiconductor surface study / p1 (0011.jp2)
  4. 1.2 Importance and review of vicinal surface study / p5 (0015.jp2)
  5. 1.3 Objectives of the present paper / p8 (0018.jp2)
  6. 1.4 Synopsis of each chapters / p9 (0019.jp2)
  7. 2 Basic concepts of surface and interface / p11 (0021.jp2)
  8. 2.1 Flat and vicinal surfaces / p11 (0021.jp2)
  9. 2.2 Superstructure and domain / p11 (0021.jp2)
  10. 2.3 Ewald construction of the vicinal surface / p13 (0023.jp2)
  11. 2.4 Growth modes of overlayers / p17 (0027.jp2)
  12. 2.5 Surface diffusion and surface electromigration / p19 (0029.jp2)
  13. 3 Experimental techniques / p23 (0033.jp2)
  14. 3.1 Vicinal Si(111) / p23 (0033.jp2)
  15. 3.2 Preparation of ultrahigh vacuum / p25 (0035.jp2)
  16. 3.3 Cleaning of surface / p27 (0037.jp2)
  17. 3.4 Evaporation of Ag and In / p29 (0039.jp2)
  18. 3.5 LEED investigation of surface structure / p32 (0042.jp2)
  19. 3.6 SAM investigation of surface mass transport / p36 (0046.jp2)
  20. 3.7 Measurement of surface temperature / p42 (0052.jp2)
  21. 4 Structure of clean surface and overlayer / p45 (0055.jp2)
  22. 4.1 Clean Si(lll) surface / p45 (0055.jp2)
  23. 4.2 Superstructure of In on Si(111) / p54 (0064.jp2)
  24. 4.3 Superstructure of Ag on Si(111) / p66 (0076.jp2)
  25. 5 Mass transport / p69 (0079.jp2)
  26. 5.1 Growth modes of Ag and In on Si(111) / p69 (0079.jp2)
  27. 5.2 Surface diffusion on the intermediate layer / p73 (0083.jp2)
  28. 5.3 Surface electromigration / p95 (0105.jp2)
  29. 5.4 Effect of impurity and electron beam / p100 (0110.jp2)
  30. 5.5 Discussions / p108 (0118.jp2)
  31. 6 Application / p121 (0131.jp2)
  32. 7 Summary and conclusions / p127 (0137.jp2)
  33. Bibliography / p133 (0143.jp2)
  34. List of publications related to this thesis / p149 (0158.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000081988
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000082196
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000246302
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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