生産システムにおける日程計画と品質管理・制御に関する情報処理方式の研究

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著者

    • 栗原, 謙三, 1948- クリハラ, ケンゾウ

書誌事項

タイトル

生産システムにおける日程計画と品質管理・制御に関する情報処理方式の研究

著者名

栗原, 謙三, 1948-

著者別名

クリハラ, ケンゾウ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第9732号

学位授与年月日

1990-06-14

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第一部 序論 / (0005.jp2)
  3. 第1章 緒言 / p2 (0006.jp2)
  4. 1.1 研究の動機と目的 / p2 (0006.jp2)
  5. 1.2 従来の研究との関連 / p6 (0010.jp2)
  6. 1.3 本研究の概要と論文構成 / p9 (0013.jp2)
  7. 第2章 計画・分析問題 / p11 (0015.jp2)
  8. 2.1 計画・分析問題の構造 / p11 (0015.jp2)
  9. 2.2 本論文で取り上げる問題の位置づけ / p15 (0019.jp2)
  10. 第二部 日程計画 / (0023.jp2)
  11. 第3章 GERTネットワークで表現された製品開発計画の投資最適配分方式 / p20 (0024.jp2)
  12. 3.1 はじめに / p21 (0025.jp2)
  13. 3.2 製品開発計画の投資最適配分問題 / p22 (0026.jp2)
  14. 3.3 投資最適配分の計算方式 / p25 (0029.jp2)
  15. 3.4 数値実験による性能評価 / p32 (0036.jp2)
  16. 3.5 まとめ / p46 (0050.jp2)
  17. 第4章 知識工学と数理計画を融合した作業スケジュール方式 / p49 (0053.jp2)
  18. 4.1 はじめに / p50 (0054.jp2)
  19. 4.2 作業スケジュール問題 / p51 (0055.jp2)
  20. 4.3 作業スケジュール方式 / p56 (0060.jp2)
  21. 4.4 提案方式の特性に関する検討 / p68 (0072.jp2)
  22. 4.5 まとめ / p83 (0087.jp2)
  23. 第三部 品質管理・制御 / (0088.jp2)
  24. 第5章 知識工学的アプローチによる半導体プロセス診断方式 / p85 (0089.jp2)
  25. 5.1 はじめに / p86 (0090.jp2)
  26. 5.2 半導体プロセス診断問題 / p87 (0091.jp2)
  27. 5.3 診断方式の提案 / p88 (0092.jp2)
  28. 5.4 知識ベースシステム開発における技術課題とその解決策 / p94 (0098.jp2)
  29. 5.5 プロセス診断システムの開発 / p110 (0114.jp2)
  30. 5.6 機能実験と実プロセスへの適用評価 / p116 (0120.jp2)
  31. 5.7 まとめ / p125 (0129.jp2)
  32. 第6章 モデルベース的アプローチによる半導体プロセス診断方式 / p126 (0130.jp2)
  33. 6.1 はじめに / p127 (0131.jp2)
  34. 6.2 Area Usage Factor 解析方式 / p128 (0132.jp2)
  35. 6.3 マスク欠陥推定方式 / p142 (0146.jp2)
  36. 6.4 まとめ / p163 (0167.jp2)
  37. 第四部 結論 / (0169.jp2)
  38. 第7章 結言 / p166 (0170.jp2)
  39. 謝辞 / p169 (0173.jp2)
  40. 参考文献 / p170 (0174.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000083059
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001012403
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000247373
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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