三次元電子レンズのシミュレーションに関する研究

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著者

    • 奥田, 荘一郎 オクダ, ソウイチロウ

書誌事項

タイトル

三次元電子レンズのシミュレーションに関する研究

著者名

奥田, 荘一郎

著者別名

オクダ, ソウイチロウ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第9825号

学位授与年月日

1990-09-19

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 1 序論 / p5 (0006.jp2)
  3. 1.1 本研究の背景 / p5 (0006.jp2)
  4. 1.2 従来のシミュレーション手法 / p13 (0010.jp2)
  5. 1.3 本研究で解決しようとする課題 / p15 (0011.jp2)
  6. 1.4 論文の構成 / p19 (0013.jp2)
  7. 2 三極部の位相測定 / p23 (0016.jp2)
  8. 2.1 位相空間法の歴史 / p24 (0017.jp2)
  9. 2.2 初期条件と位相空間 / p24 (0017.jp2)
  10. 2.3 位相特性 / p25 (0017.jp2)
  11. 2.4 位相特性の測定装置 / p29 (0019.jp2)
  12. 2.5 測定結果 / p35 (0022.jp2)
  13. 2.6 シミュレーションへの適用 / p39 (0024.jp2)
  14. 2.7 本章のまとめ / p44 (0027.jp2)
  15. 3 軌道計算法とその最適化 / p45 (0028.jp2)
  16. 3.1 方程式 / p45 (0028.jp2)
  17. 3.2 連立常微分方程式の数値解法に対する要請 / p48 (0030.jp2)
  18. 3.3 既存のアルゴリズム / p48 (0030.jp2)
  19. 3.4 アルゴリズムの改良 / p50 (0031.jp2)
  20. 3.5 誤差許容値の最適化 / p51 (0031.jp2)
  21. 3.6 本章のまとめ / p54 (0033.jp2)
  22. 4 電界の計算方法とその高精度化 / p55 (0034.jp2)
  23. 4.1 表面電荷法を選択した理由 / p56 (0035.jp2)
  24. 4.2 表面電荷法の基本式 / p56 (0035.jp2)
  25. 4.3 桁落防止のアルゴリズム / p59 (0036.jp2)
  26. 4.4 アルゴリズムの検証 / p60 (0037.jp2)
  27. 4.5 本章のまとめ / p67 (0040.jp2)
  28. 5 ソフトウェアの構成 / p69 (0042.jp2)
  29. 5.1 ソフトウェアの体系 / p69 (0042.jp2)
  30. 5.2 表面電荷密度の計算 / p71 (0043.jp2)
  31. 5.3 軌道解析 / p73 (0044.jp2)
  32. 5.4 プリ/ポスト処理 / p73 (0044.jp2)
  33. 5.5 本章のまとめ / p81 (0048.jp2)
  34. 6 電極寸法の改良法 / p83 (0050.jp2)
  35. 6.1 本手法の概要 / p84 (0051.jp2)
  36. 6.2 基本方程式 / p84 (0051.jp2)
  37. 6.3 感度の計算法 / p86 (0052.jp2)
  38. 6.4 変数の選択 / p87 (0052.jp2)
  39. 6.5 本章のまとめ / p88 (0053.jp2)
  40. 7 シミュレーションの適用例 / p89 (0054.jp2)
  41. 7.1 XF形電子レンズ / p90 (0055.jp2)
  42. 7.2 DBS方式電子銃 / p100 (0060.jp2)
  43. 7.3 本章のまとめ / p111 (0065.jp2)
  44. 8 結論 / p113 (0067.jp2)
  45. 8.1 まとめ / p113 (0067.jp2)
  46. 8.2 今後の展開 / p116 (0069.jp2)
  47. 8.3 謝辞 / p116 (0069.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000083152
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000083362
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000247466
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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