変形文字パターン発生法による文字認識系評価の研究

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著者

    • 石井, 健一郎, 1948- イシイ, ケンイチロウ

書誌事項

タイトル

変形文字パターン発生法による文字認識系評価の研究

著者名

石井, 健一郎, 1948-

著者別名

イシイ, ケンイチロウ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第9887号

学位授与年月日

1990-11-15

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0004.jp2)
  3. 1.1 現状における諸問題と本研究の目的 / p1 (0004.jp2)
  4. 1.2 従来の研究 / p4 (0006.jp2)
  5. 1.3 論文の構成 / p5 (0006.jp2)
  6. 第2章 手書き文字の変動解析 / p7 (0007.jp2)
  7. 2.1 まえがき / p7 (0007.jp2)
  8. 2.2 文字線の法線方向の変動 / p7 (0007.jp2)
  9. 2.3 文字線の接線方向の変動 / p10 (0009.jp2)
  10. 2.4 要約 / p15 (0011.jp2)
  11. 第3章 変形文字パターン発生法 / p16 (0012.jp2)
  12. 3.1 まえがき / p16 (0012.jp2)
  13. 3.2 変形文字パターン発生アルゴリズム / p17 (0012.jp2)
  14. 3.3 変形文字パターン発生実験 / p23 (0015.jp2)
  15. 3.4 心理的変形量との対応 / p30 (0019.jp2)
  16. 3.5 要約 / p30 (0019.jp2)
  17. 第4章 特徴抽出法と識別法 / p35 (0021.jp2)
  18. 4.1 まえがき / p35 (0021.jp2)
  19. 4.2 特徴抽出法 / p35 (0021.jp2)
  20. 4.3 識別法 / p37 (0022.jp2)
  21. 4.4 要約 / p41 (0024.jp2)
  22. 第5章 特徴の評価 / p42 (0025.jp2)
  23. 5.1 まえがき / p42 (0025.jp2)
  24. 5.2 文字データ / p43 (0025.jp2)
  25. 5.3 誤り確率による評価 / p45 (0026.jp2)
  26. 5.4 カテゴリー内・カテゴリー間分散による評価 / p47 (0027.jp2)
  27. 5.5 特徴空間上での変形文字パターン / p50 (0029.jp2)
  28. 5.6 変形文字パターンを用いた評価 / p57 (0032.jp2)
  29. 5.7 要約 / p63 (0035.jp2)
  30. 第6章 文字認識系の評価 / p64 (0036.jp2)
  31. 6.1 まえがき / p64 (0036.jp2)
  32. 6.2 手書き文字を設計データとする識別辞書の構成 / p64 (0036.jp2)
  33. 6.3 手書き文字をテストデータとする評価 / p66 (0037.jp2)
  34. 6.4 変形文字パターンをテストデータとする評価 / p67 (0037.jp2)
  35. 6.5 リジェクト機能の評価 / p70 (0039.jp2)
  36. 6.6 要約 / p81 (0044.jp2)
  37. 第7章 位相構造化法の評価への応用 / p83 (0045.jp2)
  38. 7.1 まえがき / p83 (0045.jp2)
  39. 7.2 位相構造化法 / p83 (0045.jp2)
  40. 7.3 位相構造化法の特徴の評価 / p88 (0048.jp2)
  41. 7.4 位相構造化法の特徴評価実験 / p91 (0049.jp2)
  42. 7.5 位相構造化法の認識系評価 / p95 (0051.jp2)
  43. 7.6 要約 / p96 (0052.jp2)
  44. 第8章 変形文字パターンを設計データとする識別辞書の構成 / p99 (0053.jp2)
  45. 8.1 まえがき / p99 (0053.jp2)
  46. 8.2 識別辞書の作成と性能評価 / p99 (0053.jp2)
  47. 8.3 設計データ数の効果 / p102 (0055.jp2)
  48. 8.4 設計データの学習順序とその効果 / p106 (0057.jp2)
  49. 8.5 要約 / p109 (0058.jp2)
  50. 第9章 結論 / p111 (0059.jp2)
  51. 謝辞 / p114 (0061.jp2)
  52. 参考文献 / p115 (0061.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000083214
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000001012434
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000247528
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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