表面電子分光法におけるスペクトル解析の基礎的研究 ヒョウメン デンシ ブンコウホウ ニオケル スペクトル カイセキ ノ キソテキ ケンキュウ

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著者

    • 吉川, 英樹 ヨシカワ, ヒデキ

書誌事項

タイトル

表面電子分光法におけるスペクトル解析の基礎的研究

タイトル別名

ヒョウメン デンシ ブンコウホウ ニオケル スペクトル カイセキ ノ キソテキ ケンキュウ

著者名

吉川, 英樹

著者別名

ヨシカワ, ヒデキ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第4557号

学位授与年月日

1992-03-25

注記・抄録

博士論文

10250

博士(工学)

1992-03-25

大阪大学

14401甲第04557号

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 序論 / p1 (0004.jp2)
  3. 第1章 表面分析法としての電子分光法 / p3 (0005.jp2)
  4. 1-1 序言 / p3 (0005.jp2)
  5. 1-2 電子分光法の発展と現状 / p3 (0005.jp2)
  6. 1-3 表面電子分光法における定量性の向上 / p9 (0008.jp2)
  7. 第2章 固体内における電子の散乱過程 / p20 (0014.jp2)
  8. 2-1 序言 / p20 (0014.jp2)
  9. 2-2 弾性散乱過程 / p21 (0014.jp2)
  10. 2-3 非弾性散乱過程 / p23 (0015.jp2)
  11. 2-4 モンテカルロ・シミュレーションによる多重散乱過程の取扱い / p35 (0021.jp2)
  12. 第3章 XPSスペクトル解析及びエネルギー損失関数の導出 / p40 (0024.jp2)
  13. 3-1 序言 / p40 (0024.jp2)
  14. 3-2 AuのXPS 4fスペクトル / p41 (0024.jp2)
  15. 3-3 光学エネルギー損失関数を用いたモンテカルロ・シミュレーション / p43 (0025.jp2)
  16. 3-4 Landau の式によるDIMFPの導出 / p48 (0028.jp2)
  17. 3-5 モンテカルロ・シミュレーションによるDIMFP及びエネルギー損失関数の導出 / p56 (0032.jp2)
  18. 第4章 後方弾性散乱電子の角度分布及び角度分解REELSスペクトルの測定 / p61 (0034.jp2)
  19. 4-1 序言 / p61 (0034.jp2)
  20. 4-2 実験装置 / p62 (0035.jp2)
  21. 4-3 Auにおける後方弾性散乱電子の角度分布測定 / p67 (0037.jp2)
  22. 4-4 回折効果 / p70 (0039.jp2)
  23. 4-5 角度分解REELSスペクトル / p73 (0040.jp2)
  24. 第5章 角度分解XPS及び角度分解REELSスペクトル解析 / p79 (0043.jp2)
  25. 5-1 序言 / p79 (0043.jp2)
  26. 5-2 角度分解XPS及び角度分解REELSスペクトル解析 / p79 (0043.jp2)
  27. 5-3 表面励起に関する考察 / p84 (0046.jp2)
  28. 5-4 多重弾性散乱効果 / p89 (0048.jp2)
  29. 総括 / p99 (0053.jp2)
  30. 参考文献 / p102 (0055.jp2)
  31. 謝辞 / p106 (0057.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000084379
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000084591
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000248693
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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