A study of hazard detection and fault analysis for VLSI circuits VLSIのハザード検出及び故障解析に関する研究

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著者

    • 康, 敏燮 カン, ミンソップ

書誌事項

タイトル

A study of hazard detection and fault analysis for VLSI circuits

タイトル別名

VLSIのハザード検出及び故障解析に関する研究

著者名

康, 敏燮

著者別名

カン, ミンソップ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第4570号

学位授与年月日

1992-03-25

注記・抄録

博士論文

10263

博士(工学)

1992-03-25

大阪大学

14401甲第04570号

目次

  1. ABSTRACT / p1 (0003.jp2)
  2. TABLE OF CONTENTS / p4 (0006.jp2)
  3. ABSTRACT / p1 (0003.jp2)
  4. TABLE OF CONTENTS / p4 (0006.jp2)
  5. 1.Introduction / p1 (0009.jp2)
  6. 1.1 Backgrounds / p1 (0009.jp2)
  7. 1.2 Outline of the Dissertation / p4 (0012.jp2)
  8. 2.Digital Logic Simulation / p7 (0015.jp2)
  9. 2.1 Introduction / p7 (0015.jp2)
  10. 2.2 Logic Simulation / p7 (0015.jp2)
  11. 2.3 Fault Analysis / p13 (0021.jp2)
  12. 3.Hazard Detection by 5-Valued Logic Simulation / p17 (0025.jp2)
  13. 3.1 Introduction / p17 (0025.jp2)
  14. 3.2 Problem of Min/Max Delay Model / p18 (0026.jp2)
  15. 3.3 Transition Rise/Fall Delay Model / p20 (0028.jp2)
  16. 3.4 Simulation Algorithm / p23 (0031.jp2)
  17. 3.5 Hazard Analysis / p25 (0033.jp2)
  18. 3.6 Event Cancellation / p31 (0039.jp2)
  19. 3.7 Experimental Results / p31 (0039.jp2)
  20. 3.8 Conclusion / p37 (0045.jp2)
  21. 4.Fault Modeling for nMOS/CMOS Devices / p39 (0047.jp2)
  22. 4.1 Introduction / p39 (0047.jp2)
  23. 4.2 Conventional Fault Model / p41 (0049.jp2)
  24. 4.3 Simulation Model Based on Switch Box / p43 (0051.jp2)
  25. 4.4 Simulation Model Based on Collapsed Fault Sets / p56 (0064.jp2)
  26. 4.5 Fault Collapsing / p60 (0068.jp2)
  27. 4.6 Experimental Results / p62 (0070.jp2)
  28. 4.7 Conclusion / p63 (0071.jp2)
  29. 5.High Speed Fault Simulation / p64 (0072.jp2)
  30. 5.1 Introduction / p64 (0072.jp2)
  31. 5.2 Hybrid Approach / p65 (0073.jp2)
  32. 5.3 Accelerating Fault Simulation / p66 (0074.jp2)
  33. 5.4 Experimental Results / p75 (0083.jp2)
  34. 5.5 Conclusion / p78 (0086.jp2)
  35. 6.Concluding Remarks and Future works / p79 (0087.jp2)
  36. Acknowledgement / p82 (0090.jp2)
  37. References / p84 (0092.jp2)
  38. List of Publications by the Author / p92 (0100.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000084392
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000084604
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000248706
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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