ディジタル集積回路の耐放射線性評価法に関する研究

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著者

    • 上村, 博 カミムラ, ヒロシ

書誌事項

タイトル

ディジタル集積回路の耐放射線性評価法に関する研究

著者名

上村, 博

著者別名

カミムラ, ヒロシ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第5587号

学位授与年月日

1992-01-22

注記・抄録

博士論文

09994

博士(工学)

1992-01-22

大阪大学

14401乙第05587号

目次

  1. 要旨 / p1 (0003.jp2)
  2. 目次 / p4 (0006.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.1 放射線によるディジタル集積回路の特性劣化とそれに伴う問題 / p1 (0008.jp2)
  5. 1.2 ディジタル集積回路の耐放射線性評価法に関する従来の研究 / p2 (0009.jp2)
  6. 1.3 本研究の目的と意義 / p5 (0012.jp2)
  7. 参考文献(第1章) / p6 (0013.jp2)
  8. 図表(第1章) / p8 (0015.jp2)
  9. 第2章 CMOS汎用ロジックICの劣化特性評価法 / p9 (0016.jp2)
  10. 2.1 ディジタルICの劣化要因 / p9 (0016.jp2)
  11. 2.2 評価手順 / p9 (0016.jp2)
  12. 2.3 インバータICを用いた検証実験 / p10 (0017.jp2)
  13. 2.4 実験結果と検討 / p12 (0019.jp2)
  14. 2.5 まとめ / p17 (0024.jp2)
  15. 参考文献(第2章) / p18 (0025.jp2)
  16. 図表(第2章) / p19 (0026.jp2)
  17. 第3章 インパルス応答法を応用した劣化特性の線量率依存性評価法 / p31 (0038.jp2)
  18. 3.1 閾値電圧シフトの線形モデル / p31 (0038.jp2)
  19. 3.2 インバータ1Cを用いた検証実験 / p34 (0041.jp2)
  20. 3.3 実験結果と検討 / p36 (0043.jp2)
  21. 3.4 まとめ / p38 (0045.jp2)
  22. 参考文献(第3章) / p38 (0045.jp2)
  23. 図表(第3章) / p40 (0047.jp2)
  24. 第4章 LSI用MOSFETの劣化特性評価法 / p47 (0054.jp2)
  25. 4.1 LSI用MOSFETの劣化特性評価に伴う問題点 / p47 (0054.jp2)
  26. 4.2 リーク電流の線形モデル / p48 (0055.jp2)
  27. 4.3 閾値電圧シフトのモデルパラメータ決定法 / p49 (0056.jp2)
  28. 4.4 サブミクロンMOSFETを用いた検証実験 / p51 (0058.jp2)
  29. 4.5 実験結果と検討 / p52 (0059.jp2)
  30. 4.6 まとめ / p55 (0062.jp2)
  31. 参考文献(第4章) / p55 (0062.jp2)
  32. 図表(第4章) / p57 (0064.jp2)
  33. 第5章 MOSFETの劣化特性の温度依存性 / p70 (0077.jp2)
  34. 5.1 集積線量効果の温度依存性の問題点 / p70 (0077.jp2)
  35. 5.2 閾値電圧シフトとリーク電流の温度依存性評価法 / p70 (0077.jp2)
  36. 5.3 サブミクロンMOSFETを用いた検証実験 / p72 (0079.jp2)
  37. 5.4 実験結果と検討 / p73 (0080.jp2)
  38. 5.5 まとめ / p78 (0085.jp2)
  39. 参考文献(第5章) / p79 (0086.jp2)
  40. 図表(第5章) / p81 (0088.jp2)
  41. 第6章 結論 / p90 (0097.jp2)
  42. 6.1 研究の結論 / p90 (0097.jp2)
  43. 6.2 今後の課題 / p92 (0099.jp2)
  44. 参考文献(第6章) / p93 (0100.jp2)
  45. 本論文に関わる主要論文リスト / p95 (0102.jp2)
  46. 謝辞 / p96 (0103.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000084437
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000084649
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000248751
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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