光検出法を用いたデンシトメトリー装置の開発と展開型分離分析への応用

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著者

    • 山本, 裕志 ヤマモト, ヒロシ

書誌事項

タイトル

光検出法を用いたデンシトメトリー装置の開発と展開型分離分析への応用

著者名

山本, 裕志

著者別名

ヤマモト, ヒロシ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第5653号

学位授与年月日

1992-02-25

注記・抄録

博士論文

10062

博士(工学)

1992-02-25

大阪大学

14401乙第05653号

目次

  1. 第1章 序論 / p1 (0003.jp2)
  2. 第2章 光吸収法によるデンシトメトリーと薄層クロマトグラフィーおよび二次元電気泳動法への適用 / p6 (0008.jp2)
  3. 2-1 緒言 / p6 (0008.jp2)
  4. 2-2 拡散反射光と拡散透過光による光吸収測定の原理 / p6 (0008.jp2)
  5. 2-3 薄層クロマトグラフィー(TLC)における同定と定量 / p10 (0010.jp2)
  6. 2-4 二次元電気泳動法(2-DE)における同定と定量 / p14 (0012.jp2)
  7. 2-5 紫外・可視デンシトメトリー装置開発の意義 / p16 (0013.jp2)
  8. 2-6 近赤外デンシトメトリー装置開発の意義 / p16 (0013.jp2)
  9. 2-7 TLC分画転写法の開発と赤外スペクトル測定の意義 / p17 (0013.jp2)
  10. 2-8 結言 / p17 (0013.jp2)
  11. 第3章 TLC/2-DE用紫外・可視イメージングデンシトメトリー装置の開発 / p19 (0014.jp2)
  12. 3 -1 緒言 / p19 (0014.jp2)
  13. 3-2 イメージングデンシトメトリー装置開発の経緯 / p19 (0014.jp2)
  14. 3-3 初期の装置の基本原理と基本性能 / p20 (0015.jp2)
  15. 3-4 基本性能の評価結果 / p25 (0017.jp2)
  16. 3-5 イメージングデンシトメトリー装置のハードウエアの設計 / p30 (0020.jp2)
  17. 3-6 イメージングデンシトメトリー装置のソフトウエアの設計 / p34 (0022.jp2)
  18. 3-7 画像処理ソフトウエアの設計 / p35 (0022.jp2)
  19. 3-8 イメージングデンシトメトリー装置の基本性能評価結果 / p43 (0026.jp2)
  20. 3-9 結言 / p44 (0027.jp2)
  21. 第4章 紫外イメージングデンシトメトリー装置による2-DEゲル上の非染色蛋自分画の同定と定量 / p46 (0028.jp2)
  22. 4-1 緒言 / p46 (0028.jp2)
  23. 4-2 測定試薬、試料 / p46 (0028.jp2)
  24. 4-3 電気泳動 / p47 (0028.jp2)
  25. 4-4 測定操作 / p48 (0029.jp2)
  26. 4-5 測定結果 / p48 (0029.jp2)
  27. 4-6 結言 / p54 (0032.jp2)
  28. 第5章 可視イメージングデンシトメトリー装置による二次元TLCプレート上リン脂質分画の定量 / p55 (0032.jp2)
  29. 5-1 緒言 / p55 (0032.jp2)
  30. 5-2 リン脂質の定量分析の意義 / p55 (0032.jp2)
  31. 5-3 測定試薬、試料、および操作 / p55 (0032.jp2)
  32. 5-4 TLCの展開および呈色方法 / p56 (0033.jp2)
  33. 5-5 測定条件 / p56 (0033.jp2)
  34. 5-6 測定結果 / p56 (0033.jp2)
  35. 5-7 結言 / p61 (0035.jp2)
  36. 第6章 近赤外デンシトメトリー装置の開発と非発色TLC分画定量への応用 / p62 (0036.jp2)
  37. 6-1 緒言 / p62 (0036.jp2)
  38. 6-2 測定光学系 / p62 (0036.jp2)
  39. 6-3 測定条件 / p63 (0036.jp2)
  40. 6-4 測定試薬、およびTLC / p64 (0037.jp2)
  41. 6-5 測定結果 / p64 (0037.jp2)
  42. 6-6 結言 / p72 (0041.jp2)
  43. 第7章 TLC分画転写法の開発とFTIRによる赤外スペクトルの測定 / p73 (0041.jp2)
  44. 7-1 緒言 / p73 (0041.jp2)
  45. 7-2 転写の原理 / p73 (0041.jp2)
  46. 7-3 測定試薬、材料7 4 / p74 (0042.jp2)
  47. 7-4 転写操作 / p74 (0042.jp2)
  48. 7-5 測定装置、測定条件 / p74 (0042.jp2)
  49. 7-6 測定結果 / p76 (0043.jp2)
  50. 7-7 結言 / p83 (0046.jp2)
  51. 第8章 要約および結論 / p84 (0047.jp2)
  52. 謝辞 / p88 (0049.jp2)
  53. 参考文献 / p89 (0049.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000084503
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000084715
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000248817
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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