Fraunhofer回折による超精密加工表面テクスチャの測定評価法に関する研究
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著者
書誌事項
- タイトル
-
Fraunhofer回折による超精密加工表面テクスチャの測定評価法に関する研究
- 著者名
-
高谷, 裕浩
- 著者別名
-
タカヤ, ヤスヒロ
- 学位授与大学
-
北海道大学
- 取得学位
-
工学博士
- 学位授与番号
-
甲第3040号
- 学位授与年月日
-
1992-03-25
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 緒論 / p1 (0008.jp2)
- 1.1節 本研究の背景 / p1 (0008.jp2)
- 1.2節 超精密加工表面テクスチャの測定評価における問題点 / p4 (0011.jp2)
- 1.3節 本研究の目的と概要 / p13 (0020.jp2)
- 謝辞 / p17 (0024.jp2)
- 本論文中で使用する主な記号 / p18 (0025.jp2)
- 第2章 超精密加工技術の現状と本研究に関連する測定法の問題点 / p21 (0028.jp2)
- 2.1節 超精密技術の研究開発課題と本研究の位置づけ / p22 (0029.jp2)
- 2.2節 超精密加工技術の現状 / p26 (0033.jp2)
- 2.3節 超精密加工表面の表面粗さ測定における問題点 / p54 (0061.jp2)
- 2.4節 超精密加工表面の微細欠陥、付着異物測定における問題点 / p81 (0088.jp2)
- 2.5節 表面微細溝形状測定における問題点 / p88 (0095.jp2)
- 2.6節 光学的フーリエ変換による表面テクスチャの特徴抽出原理 / p92 (0099.jp2)
- 2.7節 結論 / p96 (0103.jp2)
- 第3章 光学的フーリエ変換の原理 / p99 (0106.jp2)
- 3.1節 Kirchhoffの回折理論と回折波の伝播 / p101 (0108.jp2)
- 3.2節 Fraunhofer回折像 / p113 (0120.jp2)
- 3.3節 表面テクスチャとFraunhofer回折光強度の関係 / p122 (0129.jp2)
- 3.4節 結論 / p127 (0134.jp2)
- 第4章 Fraunhofer回折による周期的表面粗さの測定評価法 / p128 (0135.jp2)
- 4.1節 周期的表面粗さの測定原理 / p130 (0137.jp2)
- 4.2節 計算機シミュレーション / p146 (0153.jp2)
- 4.3節 超精密ダイヤモンド切削表面粗さの測定実験 / p157 (0164.jp2)
- 4.4節 磁気ディスクのオンマシン計測 / p171 (0178.jp2)
- 4.5節 切削加工プロセスの推定 / p202 (0209.jp2)
- 4.6節 結論 / p216 (0223.jp2)
- 第5章 Fraunhofer回折によるランダム表面粗さの測定評価法 / p219 (0226.jp2)
- 5.1節 ランダム表面粗さの測定原理 / p221 (0228.jp2)
- 5.2節 計算機シミュレーション / p242 (0249.jp2)
- 5.3節 超精密鏡面研磨加工されたシリコンウェハによる検証実験 / p251 (0258.jp2)
- 5.4節 加工工程のモニタリング / p277 (0284.jp2)
- 5.5節 結論 / p282 (0289.jp2)
- 第6章 超精密加工表面における表面欠陥、付着異物の検出と測定評価法 / p284 (0291.jp2)
- 6.1節 三角形微細傷による回折光強度分布の解析 / p286 (0293.jp2)
- 6.2節 三角形微細傷による回折光強度測定実験 / p294 (0301.jp2)
- 6.3節 集光ビームモデルによる微細傷の散乱特性解析 / p312 (0319.jp2)
- 6.4節 付着異物による回折パターンの解析 / p336 (0343.jp2)
- 6.5節 偏光・回折光学系による付着異物検出の基礎実験 / p351 (0358.jp2)
- 6.6節 偏光度測定によるピンホールの検出 / p361 (0368.jp2)
- 6.7節 結論 / p370 (0377.jp2)
- 第7章 表面微細溝形状の測定評価法 / p372 (0379.jp2)
- 7.1節 矩形溝形状パラメータの測定原理 / p374 (0381.jp2)
- 7.2節 計算機シミュレーション / p396 (0403.jp2)
- 7.3節 矩形溝形状パラメータの測定評価実験 / p407 (0414.jp2)
- 7.4節 逆散乱位相法による微細溝形状測定理論 / p427 (0434.jp2)
- 7.5節 結論 / p441 (0448.jp2)
- 第8章 結論 / p443 (0450.jp2)
- 参考文献 / p448 (0455.jp2)