反転処理医用X線像の画質に関する計測と総合画質評価の研究

この論文をさがす

著者

    • 稲津, 博 イナツ, ヒロシ

書誌事項

タイトル

反転処理医用X線像の画質に関する計測と総合画質評価の研究

著者名

稲津, 博

著者別名

イナツ, ヒロシ

学位授与大学

立命館大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第115号

学位授与年月日

1992-03-28

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 医療におけるX線画像の歴史と現状 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 画像記録系の感度と画質 / p2 (0006.jp2)
  5. 1.3 画像評価と画質改善の問題点 / p3 (0006.jp2)
  6. 1.4 著者の過去におげる研究 / p6 (0008.jp2)
  7. 1.5 本論文の目的と概要 / p8 (0009.jp2)
  8. 第2章 X線フィルム濃度変動測定における2,3の問題点 / p12 (0011.jp2)
  9. 2.1 緒言 / p12 (0011.jp2)
  10. 2.2 フィルム粒状パターンの観察 / p12 (0011.jp2)
  11. 2.3 焦点ボケのMTFの測定 / p14 (0012.jp2)
  12. 2.4 増感紙―フィルム系のWienerスペクトルの測定 / p19 (0014.jp2)
  13. 2.5 結言 / p22 (0016.jp2)
  14. 第3章 線像強度分布測定法の開発 / p23 (0016.jp2)
  15. 3.1 緒言 / p23 (0016.jp2)
  16. 3.2 切断誤差および倍数露光法による補正 / p23 (0016.jp2)
  17. 3.3 セグメント法による線像強度分布 / p26 (0018.jp2)
  18. 3.4 前露光法による線像強度分布 / p29 (0019.jp2)
  19. 3.4 結言 / p32 (0021.jp2)
  20. 第4章 反転処理X線画像の物理的画質と画質改善 / p33 (0021.jp2)
  21. 4.1 緒言 / p33 (0021.jp2)
  22. 4.2 通常および反転現像処理 / p34 (0022.jp2)
  23. 4.3 顕微鏡下における観察 / p37 (0023.jp2)
  24. 4.4 コントラストの解析 / p40 (0025.jp2)
  25. 4.5 解像特性の空間周波数解析 / p46 (0028.jp2)
  26. 4.6 雑音特性の空間周波数解析 / p51 (0030.jp2)
  27. 4.7 結言 / p58 (0034.jp2)
  28. 第5章 反転処理X線像の視覚的信号検出能と信号対雑音比 / p61 (0035.jp2)
  29. 5.1 緒言 / p61 (0035.jp2)
  30. 5.2 視覚的信号検出能の測定 / p61 (0035.jp2)
  31. 5.3 NEQの測定 / p64 (0037.jp2)
  32. 5.4 信号検出能の背景濃度依存性 / p65 (0037.jp2)
  33. 5.5 NEQ値の背景濃度依存性 / p69 (0039.jp2)
  34. 5.6 結言 / p72 (0041.jp2)
  35. 第6章 精密度の観点からの画質評価 / p73 (0041.jp2)
  36. 6.1 緒言 / p73 (0041.jp2)
  37. 6.2 エントロピー法による画質評価 / p73 (0041.jp2)
  38. 6.3 エントロピーの測定 / p80 (0045.jp2)
  39. 6.4 伝達効率ηによる評価 / p86 (0048.jp2)
  40. 6.5 条件つきエントロピーHx(Y)による評価 / p87 (0048.jp2)
  41. 6.6 結言 / p88 (0049.jp2)
  42. 第7章 冗長度法による総合画質評価法の開発 / p89 (0049.jp2)
  43. 7.1 緒言 / p89 (0049.jp2)
  44. 7.2 冗長度および被写体 / p89 (0049.jp2)
  45. 7.3 冗長度法の構造解析 / p91 (0050.jp2)
  46. 7.4 X線像記録系の評価 / p96 (0053.jp2)
  47. 7.5 被写体コントラストと画像の明瞭度の評価 / p98 (0054.jp2)
  48. 7.6 結言 / p104 (0057.jp2)
  49. 第8章 結論 / p105 (0057.jp2)
  50. 謝辞 / p111 (0060.jp2)
  51. 参考文献 / p112 (0061.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000085616
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000085830
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000249930
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ