情報処理用電子デバイスの構成法ならびに特性計測法に関する研究

この論文をさがす

著者

    • 飛田, 敏男 トビタ, トシオ

書誌事項

タイトル

情報処理用電子デバイスの構成法ならびに特性計測法に関する研究

著者名

飛田, 敏男

著者別名

トビタ, トシオ

学位授与大学

立命館大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第118号

学位授与年月日

1992-03-28

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p7 (0006.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  3. 1.1 緒言 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.2 研究の目的 / p5 (0010.jp2)
  5. 1.3 研究の内容 / p7 (0011.jp2)
  6. 第1章の文献 / p9 (0012.jp2)
  7. 第2章 デバイス用基本素子構成法の研究 / p11 (0013.jp2)
  8. 2.1 緒言 / p11 (0013.jp2)
  9. 2.2 膜回路形成技術 / p11 (0013.jp2)
  10. 2.3 プロセス制御技術 / p25 (0020.jp2)
  11. 2.4 結言 / p28 (0022.jp2)
  12. 第2章の文献 / p30 (0023.jp2)
  13. 第3章 デバイス設計と特性計測法の研究 / p32 (0024.jp2)
  14. 3.1 緒言 / p32 (0024.jp2)
  15. 3.2 設計・特性解析技術 / p32 (0024.jp2)
  16. 3.3 デバイス周辺構造の最適化 / p45 (0031.jp2)
  17. 3.4 デバイス特性計測・試験技術 / p51 (0034.jp2)
  18. 3.5 結言 / p57 (0037.jp2)
  19. 第3章の文献 / p59 (0038.jp2)
  20. 第4章 厚膜抵抗体の抵抗値調整技術の研究 / p61 (0039.jp2)
  21. 4.1 緒言 / p61 (0039.jp2)
  22. 4.2 パルス電圧トリミング技術 / p62 (0040.jp2)
  23. 4.3 抵抗体の導電機構 / p73 (0045.jp2)
  24. 4.4 感熱記録デバイスの開発 / p85 (0051.jp2)
  25. 4.5 結言 / p89 (0053.jp2)
  26. 第4章の文献 / p90 (0054.jp2)
  27. 第5章 光電変換デバイスの信号検出技術の研究 / p92 (0055.jp2)
  28. 5.1 緒言 / p92 (0055.jp2)
  29. 5.2 素子・周辺設計技術 / p92 (0055.jp2)
  30. 5.3 素子の最適保護コート技術 / p97 (0058.jp2)
  31. 5.4 画像読取りデバイスの開発 / p105 (0062.jp2)
  32. 5.5 結言 / p109 (0064.jp2)
  33. 第5章の文献 / p110 (0064.jp2)
  34. 第6章 画像表示デバイスの特性解析技術の研究 / p112 (0065.jp2)
  35. 6.1 緒言 / p112 (0065.jp2)
  36. 6.2 素子特性の修復技術 / p113 (0066.jp2)
  37. 6.3 不良素子解析技術 / p123 (0071.jp2)
  38. 6.4 画像表示デバイスの開発 / p126 (0072.jp2)
  39. 6.5 結言 / p130 (0074.jp2)
  40. 第6章の文献 / p131 (0075.jp2)
  41. 第7章 結論 / p134 (0076.jp2)
  42. 謝辞 / (0080.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000085619
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000085833
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000249933
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ