Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体ヘテロ構造における電子輸送現象とホットエレクトロン効果

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著者

    • 坂本, 良二 サカモト, リョウジ

書誌事項

タイトル

Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体ヘテロ構造における電子輸送現象とホットエレクトロン効果

著者名

坂本, 良二

著者別名

サカモト, リョウジ

学位授与大学

大阪工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第5号

学位授与年月日

1992-03-03

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0007.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0010.jp2)
  3. 1-1 本研究の背景 / p1 (0010.jp2)
  4. 1-2 本研究の目的 / p2 (0011.jp2)
  5. 1-3 論文の構成 / p3 (0012.jp2)
  6. 第2章 2次元電子準位と電子分布の理論解析 / p6 (0015.jp2)
  7. 2-1 緒言 / p6 (0015.jp2)
  8. 2-2 種々のヘテロ構造の性質 / p6 (0015.jp2)
  9. 2-3 自己無撞着な計算 / p9 (0018.jp2)
  10. 2-4 タイプIヘテロ構造の電子状態 / p12 (0021.jp2)
  11. 2-5 タイプIIヘテロ構造の電子状態 / p19 (0028.jp2)
  12. 2-6 結言 / p23 (0032.jp2)
  13. 第3章 実空間電子遷移効果と高電界電手輸送現象の理論解析 / p25 (0034.jp2)
  14. 3-1 緒言 / p25 (0034.jp2)
  15. 3-2 実空間電子遷移効果とモンテカルロ法 / p25 (0034.jp2)
  16. 3-3 GaAs/A1GaAsヘテロ構造 / p35 (0044.jp2)
  17. 3-4 InGaAs/InPヘテロ構造 / p42 (0051.jp2)
  18. 3-5 lnGaAs/AlInAsヘテロ構造 / p46 (0055.jp2)
  19. 3-6 InAs/A1GaSbヘテロ構造 / p51 (0060.jp2)
  20. 3-7 lnP/AllnAsヘテロ構造 / p55 (0064.jp2)
  21. 3-8 結言 / p57 (0066.jp2)
  22. 第4章 ヘテロ構造素子の高電界電気伝導 / p59 (0068.jp2)
  23. 4-1 緒言 / p59 (0068.jp2)
  24. 4-2 素子加工プロセス / p59 (0068.jp2)
  25. 4-3 パルスホール測定 / p62 (0071.jp2)
  26. 4-4 測定結果 / p64 (0073.jp2)
  27. 4-5 結言 / p75 (0084.jp2)
  28. 第5章 ヘテロ構造のフォトルミネセンスと電子分布 / p76 (0085.jp2)
  29. 5-1 緒言 / p76 (0085.jp2)
  30. 5-2 フォトルミネセンスの測定方法 / p76 (0085.jp2)
  31. 5-3 測定結果 / p78 (0087.jp2)
  32. 5-4 結言 / p87 (0096.jp2)
  33. 第6章 実空間電子遷移効果の光学的検証 / p89 (0098.jp2)
  34. 6-1 緒言 / p89 (0098.jp2)
  35. 6-2 試料作製と測定方法 / p90 (0099.jp2)
  36. 6-3 実験結果 / p91 (0100.jp2)
  37. 6-4 結言 / p102 (0111.jp2)
  38. 第7章 タイプIIヘテロ構造の光物性とシュタルク効果 / p104 (0113.jp2)
  39. 7-1 緒言 / p104 (0113.jp2)
  40. 7-2 試料作製と実験方法 / p104 (0113.jp2)
  41. 7-3 測定結果 / p105 (0114.jp2)
  42. 7-4 結言 / p110 (0119.jp2)
  43. 第8章 擬1次元電子系のシュブニコフ・ドハース振動と輸送現象 / p112 (0121.jp2)
  44. 8-1 緒言 / p112 (0121.jp2)
  45. 8-2 ヘテロ構造を用いた低次元化電子輸送の特徴 / p112 (0121.jp2)
  46. 8-3 量子細線中の電子の振舞 / p113 (0122.jp2)
  47. 8-4 試料作製と測定方法 / p118 (0127.jp2)
  48. 8-5 シュブニコフ・ドハース振動と量子ホール効果 / p122 (0131.jp2)
  49. 8-6 結言 / p126 (0135.jp2)
  50. 第9章 結論 / p127 (0136.jp2)
  51. 参考文献 / p131 (0140.jp2)
  52. 研究業績 / p136 (0145.jp2)
  53. 謝辞 / p139 (0148.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000085683
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000085897
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000249997
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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