Measurement of semi-leptonic decay width Γ(D[0]→K[-]μ[+]ν[μ]) セミレプトニック崩壊Γ(D[0]→K[-]μ[+]ν[μ])における崩壊幅の測定

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著者

    • 渡辺, 尚治 ワタナベ, ショウジ

書誌事項

タイトル

Measurement of semi-leptonic decay width Γ(D[0]→K[-]μ[+]ν[μ])

タイトル別名

セミレプトニック崩壊Γ(D[0]→K[-]μ[+]ν[μ])における崩壊幅の測定

著者名

渡辺, 尚治

著者別名

ワタナベ, ショウジ

学位授与大学

東邦大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

甲第152号

学位授与年月日

1992-03-16

注記・抄録

博士論文

目次

  1. ABSTRACT / (0003.jp2)
  2. Contents / p4 (0007.jp2)
  3. ACKNOWLEDGEMENTS / p2 (0005.jp2)
  4. LIST OF FIGURES / p7 (0010.jp2)
  5. LIST OF TABLES / p9 (0012.jp2)
  6. 1 INTRODUCTION / p1 (0013.jp2)
  7. 1.1 The Status of Weak Decay in High Energy Physics / p1 (0013.jp2)
  8. 1.2 Progress of Charm Physics with Emulsion Target / p2 (0014.jp2)
  9. 2 THEORY OF WEAK DECAY / p5 (0017.jp2)
  10. 2.1 Introduction / p5 (0017.jp2)
  11. 2.2 Quarks and Leptons / p6 (0018.jp2)
  12. 2.3 Weak Interaction / p7 (0019.jp2)
  13. 2.4 Cabibbo-Kobayashi-Maskawa Matrix / p8 (0020.jp2)
  14. 2.5 Spectator Quark Model / p10 (0022.jp2)
  15. 2.6 Kinematics of P→Xℓν / p11 (0023.jp2)
  16. 2.7 Form Factor / p12 (0024.jp2)
  17. 2.8 Model Calculations for Partial Width / p13 (0025.jp2)
  18. 3 DESCRIPTION OF THE E653 EXPERIMENT / p16 (0028.jp2)
  19. 3.1 Experimental Apparatus / p16 (0028.jp2)
  20. 3.2 Counter System / p28 (0040.jp2)
  21. 3.4 Emulsion Analysis System / p42 (0054.jp2)
  22. 4 METHODS OF EMULSION ANALYSIS / p56 (0068.jp2)
  23. 4.1 Outline of Nuclear Emulsion Analysis / p56 (0068.jp2)
  24. 4.2 Flow Chart of Emulsion Scanning Procedures / p60 (0072.jp2)
  25. 4.3 Event Location / p64 (0076.jp2)
  26. 4.4 Decay Search / p67 (0079.jp2)
  27. 5 SUMMARY OF DATA / p77 (0089.jp2)
  28. 5.1 Event Summary / p77 (0089.jp2)
  29. 5.2 List of Background in Decay Candidates / p81 (0093.jp2)
  30. 5.3 Estimation of Neutral Backgrounds / p83 (0095.jp2)
  31. 6 ANALYSIS OF CHARM DECAYS / p86 (0098.jp2)
  32. 6.1 Introduction / p86 (0098.jp2)
  33. 6.2 Analysis of Muon Transverse Momentum Distribution / p87 (0099.jp2)
  34. 6.3 Analysis of Mass Distribution / p99 (0111.jp2)
  35. 7 EXPERIMENTAL RESULTS AND DISCUSSION / p106 (0118.jp2)
  36. 7.1 The Fraction ƒ / p106 (0118.jp2)
  37. 7.2 Decay Width of D⁰→K⁻μ⁺νμ / p117 (0129.jp2)
  38. 7.3 Vcs;C-K-M Matrix Element / p118 (0130.jp2)
  39. 7.4 Form Factor / p119 (0131.jp2)
  40. 7.5 Semi-electronic Decay Mode / p119 (0131.jp2)
  41. 8 CONCLUSIONS / p121 (0133.jp2)
  42. 8.1 Beam Exposure and Target Mover Control / p122 (0134.jp2)
  43. 8.2 Constructions of Semi-automated Microscope Stage and its Interface / p122 (0134.jp2)
  44. 8.3 Evaluation of Relative Branching Fraction of D⁰→K⁻μ⁺νμ / p123 (0135.jp2)
  45. 8.4 C-K-M Matrix Element and Form Factor / p124 (0136.jp2)
  46. 8.5 Future Prospects / p124 (0136.jp2)
  47. SUMMARY OF EVENT SAMPLE / p126 (0138.jp2)
  48. REFERENCES / p131 (0143.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000087439
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000087655
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000251753
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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