CMOS LSIの高性能化設計技術に関する研究

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著者

    • 笠井, 良太 カサイ, リョウタ

書誌事項

タイトル

CMOS LSIの高性能化設計技術に関する研究

著者名

笠井, 良太

著者別名

カサイ, リョウタ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第5755号

学位授与年月日

1992-06-23

注記・抄録

博士論文

10354

博士(工学)

1992-06-23

大阪大学

14401乙第05755号

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 研究の目的と課題 / p3 (0006.jp2)
  5. 1.3 デバイス・回路設計技術開発の歴史と本研究の位置づけ / p3 (0006.jp2)
  6. 1.4 本論文の構成 / p5 (0007.jp2)
  7. 2章 MOSFETの2次元および3次元数値解析法 / p8 (0009.jp2)
  8. 2.1 まえがき / p8 (0009.jp2)
  9. 2.2 半導体基本方程式の2次元数値解析法 / p9 (0009.jp2)
  10. 2.3 数値解析結果の評価と物理モデルの高精度化 / p19 (0014.jp2)
  11. 2.4 3次元解析への拡張 / p22 (0016.jp2)
  12. 2.5 まとめ / p28 (0019.jp2)
  13. 3章 デバイスシミュレーションによる徴細構造CMOSの特性解析 / p30 (0020.jp2)
  14. 3.1 まえがき / p30 (0020.jp2)
  15. 3.2 短チャネル効果の解析 / p31 (0020.jp2)
  16. 3.3 微小寸法効果(短・狭チャネル同時効果)の解析 / p35 (0022.jp2)
  17. 3.4 CMOS/SIMOXデバイスの解析 / p44 (0027.jp2)
  18. 3.5 まとめ / p52 (0031.jp2)
  19. 4章 デバイスシミュレータとプロセス/回路シミュレータの結合によるLSI設計の効率化 / p54 (0032.jp2)
  20. 4.1 まえがき / p54 (0032.jp2)
  21. 4.2 プロセス・デバイス結合シミュレーション / p55 (0032.jp2)
  22. 4.3 デバイス・回路結合シミュレーション / p57 (0033.jp2)
  23. 4.4 まとめ / p62 (0036.jp2)
  24. 5章 CMOSラッチアップの解析 / p63 (0036.jp2)
  25. 5.1 まえがき / p63 (0036.jp2)
  26. 5.2 非線形効果を考慮したラッチアップの過渡解析モデル / p65 (0037.jp2)
  27. 5.3 2次元過渡シミュレータによる放射線誘起のラッチアップ解析 / p72 (0041.jp2)
  28. 5.4 まとめ / p76 (0043.jp2)
  29. 6章 スタンダードセル方式によるVLSIプロセッサの設計 / p78 (0044.jp2)
  30. 6.1 まえがき / p78 (0044.jp2)
  31. 6.2 CMOSとnE/DMOSの比較 / p78 (0044.jp2)
  32. 6.3 32ビットVLSIプロセッサの設計 / p87 (0048.jp2)
  33. 6.4 出力バッファの同時スイッチングノイズへの対策 / p93 (0051.jp2)
  34. 6.5 まとめ / p96 (0053.jp2)
  35. 7章 モジュラー・スタンダードセル複合方式(IMSA)による高集積CMOS LSI設計法 / p97 (0053.jp2)
  36. 7.1 まえがき / p97 (0053.jp2)
  37. 7.2 設計思想 / p98 (0054.jp2)
  38. 7.3 IMSA設計法 / p99 (0054.jp2)
  39. 7.4 IMSA設計法とスタンダードセル設計法の比較 / p106 (0058.jp2)
  40. 7.5 IMSA設計方式の応用 / p108 (0059.jp2)
  41. 7.6 まとめ / p113 (0061.jp2)
  42. 8章 結論 / p114 (0062.jp2)
  43. 8.1 研究の成果 / p114 (0062.jp2)
  44. 8.2 今後の課題 / p116 (0063.jp2)
  45. 謝辞 / p118 (0064.jp2)
  46. 参考文献 / p120 (0065.jp2)
  47. 研究業績リスト / p129 (0069.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000088297
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000088516
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000252611
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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