押込み法を用いた微小試片試験法の開発

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著者

    • 野口, 新二 ノグチ, シンジ

書誌事項

タイトル

押込み法を用いた微小試片試験法の開発

著者名

野口, 新二

著者別名

ノグチ, シンジ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第2378号

学位授与年月日

1991-09-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / (0005.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1-1 材料試験とは何であろうか / p1 (0008.jp2)
  5. 1-2 材料試験の基本的形態 / p2 (0009.jp2)
  6. 1-3 いま注目される微小試験法 / p3 (0010.jp2)
  7. 1-4 押込みかたさ試験 / p4 (0011.jp2)
  8. 1-5 本論文の目的 / p5 (0012.jp2)
  9. 1-6 本論文の構成 / p6 (0013.jp2)
  10. 1章 参考文献 / p7 (0014.jp2)
  11. 第2章 押し込み破壊じん性試験法の確立 / p9 (0016.jp2)
  12. 2-1 緒言 / p9 (0016.jp2)
  13. 2-2 実験方法 / p10 (0017.jp2)
  14. 2-3 実験結果および考察 / p11 (0018.jp2)
  15. 2-4 結言 / p18 (0025.jp2)
  16. 2章 参考文献 / p18 (0025.jp2)
  17. 第3章 球状圧子を用いた微小疲労試験法の開発 / p41 (0048.jp2)
  18. 3-1 緒言 / p41 (0048.jp2)
  19. 3-2 実験方法 / p42 (0049.jp2)
  20. 3-3 実験結果および考察 / p45 (0052.jp2)
  21. 3-4 結言 / p65 (0072.jp2)
  22. 3章 参考文献 / p65 (0072.jp2)
  23. 第4章 総括 / p129 (0136.jp2)
  24. Appendix / p132 (0139.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000088312
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000088531
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000252626
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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