シリコンPINダイオードによる診断用X線スペクトルの研究

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著者

    • 青木, 清 アオキ, キヨシ

書誌事項

タイトル

シリコンPINダイオードによる診断用X線スペクトルの研究

著者名

青木, 清

著者別名

アオキ, キヨシ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第2258号

学位授与年月日

1991-09-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / (0005.jp2)
  3. 1.序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.1 緒言 / p1 (0008.jp2)
  5. 1.2 診断用X線スペクトル測定の歴史 / p2 (0009.jp2)
  6. 1.3 従来のスペクトル測定法の問題点 / p11 (0018.jp2)
  7. 2.シリコンPINダイオードによるスペクトル測定の可能性 / p13 (0020.jp2)
  8. 2.1 新しい検出器に望まれる性能 / p13 (0020.jp2)
  9. 2.2 シリコンPIN型フォトダイオードの構造 / p15 (0022.jp2)
  10. 2.3 フォトダイオード選択の基準 / p17 (0024.jp2)
  11. 2.4 選択したフォトダイオードの特性 / p18 (0025.jp2)
  12. 2.5 高抵抗層の厚さ / p20 (0027.jp2)
  13. 2.6 全エネルギーピーク効率の補正の可能性 / p24 (0031.jp2)
  14. 3.光電子エスケープ現象 / p30 (0037.jp2)
  15. 3.1 解析的手法によるエスケープ確率の計算 / p30 (0037.jp2)
  16. 3.2 モンテカルロシミュレーションで使用するモデル / p33 (0040.jp2)
  17. 3.3 シミュレーションの方法 / p34 (0041.jp2)
  18. 3.4 シミュレーションの結果 / p42 (0049.jp2)
  19. 3.5 実験値との比較 / p49 (0056.jp2)
  20. 3.6 検出器の適切な大きさ / p49 (0056.jp2)
  21. 3.7 エスケープ確率の経験式 / p52 (0059.jp2)
  22. 4.シリコンPIN型フォトダイオードによるスペクトル測定 / p57 (0064.jp2)
  23. 4.1 測定スペクトルの補正 / p57 (0064.jp2)
  24. 4.2 直接線の測定 / p65 (0072.jp2)
  25. 4.3 ファントム透過点における散乱線の測定 / p71 (0078.jp2)
  26. 5.指頭形外囲器を有するシリコンPINダイオード検出器の開発 / p79 (0086.jp2)
  27. 5.1 診断用X線の検出器として望ましい外囲器 / p79 (0086.jp2)
  28. 5.2 指頭形外囲器を有する検出器の開発 / p80 (0087.jp2)
  29. 5.3 開発した検出器の特性 / p83 (0090.jp2)
  30. 6.開発した検出器による診断用X線スペクトルの測定 / p89 (0096.jp2)
  31. 6.1 直接線の測定 / p89 (0096.jp2)
  32. 6.2 ファントム内散乱線の測定 / p91 (0098.jp2)
  33. 6.3 検出器方向依存性の散乱線スペクトルへの影響 / p96 (0103.jp2)
  34. 7.結論 / p105 (0112.jp2)
  35. 謝辞 / p107 (0114.jp2)
  36. 付録 / p108 (0115.jp2)
  37. 参考文献 / p112 (0119.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000088507
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000088726
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000252821
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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