シリコンPINダイオードによる診断用X線スペクトルの研究
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著者
書誌事項
- タイトル
-
シリコンPINダイオードによる診断用X線スペクトルの研究
- 著者名
-
青木, 清
- 著者別名
-
アオキ, キヨシ
- 学位授与大学
-
東京工業大学
- 取得学位
-
工学博士
- 学位授与番号
-
乙第2258号
- 学位授与年月日
-
1991-09-30
注記・抄録
博士論文
目次
- 論文目録 / (0002.jp2)
- 目次 / (0005.jp2)
- 1.序論 / p1 (0008.jp2)
- 1.1 緒言 / p1 (0008.jp2)
- 1.2 診断用X線スペクトル測定の歴史 / p2 (0009.jp2)
- 1.3 従来のスペクトル測定法の問題点 / p11 (0018.jp2)
- 2.シリコンPINダイオードによるスペクトル測定の可能性 / p13 (0020.jp2)
- 2.1 新しい検出器に望まれる性能 / p13 (0020.jp2)
- 2.2 シリコンPIN型フォトダイオードの構造 / p15 (0022.jp2)
- 2.3 フォトダイオード選択の基準 / p17 (0024.jp2)
- 2.4 選択したフォトダイオードの特性 / p18 (0025.jp2)
- 2.5 高抵抗層の厚さ / p20 (0027.jp2)
- 2.6 全エネルギーピーク効率の補正の可能性 / p24 (0031.jp2)
- 3.光電子エスケープ現象 / p30 (0037.jp2)
- 3.1 解析的手法によるエスケープ確率の計算 / p30 (0037.jp2)
- 3.2 モンテカルロシミュレーションで使用するモデル / p33 (0040.jp2)
- 3.3 シミュレーションの方法 / p34 (0041.jp2)
- 3.4 シミュレーションの結果 / p42 (0049.jp2)
- 3.5 実験値との比較 / p49 (0056.jp2)
- 3.6 検出器の適切な大きさ / p49 (0056.jp2)
- 3.7 エスケープ確率の経験式 / p52 (0059.jp2)
- 4.シリコンPIN型フォトダイオードによるスペクトル測定 / p57 (0064.jp2)
- 4.1 測定スペクトルの補正 / p57 (0064.jp2)
- 4.2 直接線の測定 / p65 (0072.jp2)
- 4.3 ファントム透過点における散乱線の測定 / p71 (0078.jp2)
- 5.指頭形外囲器を有するシリコンPINダイオード検出器の開発 / p79 (0086.jp2)
- 5.1 診断用X線の検出器として望ましい外囲器 / p79 (0086.jp2)
- 5.2 指頭形外囲器を有する検出器の開発 / p80 (0087.jp2)
- 5.3 開発した検出器の特性 / p83 (0090.jp2)
- 6.開発した検出器による診断用X線スペクトルの測定 / p89 (0096.jp2)
- 6.1 直接線の測定 / p89 (0096.jp2)
- 6.2 ファントム内散乱線の測定 / p91 (0098.jp2)
- 6.3 検出器方向依存性の散乱線スペクトルへの影響 / p96 (0103.jp2)
- 7.結論 / p105 (0112.jp2)
- 謝辞 / p107 (0114.jp2)
- 付録 / p108 (0115.jp2)
- 参考文献 / p112 (0119.jp2)