磁場安定真空遮断器の開発とそのアーク特性に関する研究

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著者

    • 森宮, 脩 モリミヤ, オサミ

書誌事項

タイトル

磁場安定真空遮断器の開発とそのアーク特性に関する研究

著者名

森宮, 脩

著者別名

モリミヤ, オサミ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第2265号

学位授与年月日

1991-09-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / p1 (0004.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p4 (0008.jp2)
  4. 1.1 序論 / p4 (0008.jp2)
  5. 1.2 真空遮断器の歴史 / p4 (0008.jp2)
  6. 1.3 真空遮断器の遮断原理と基本構成 / p2 (0007.jp2)
  7. 1.4 真空バルブの技術課題 / p1 (0006.jp2)
  8. 1.5 本研究の目的と意義 / p16 (0014.jp2)
  9. 第1章の参考文献 / p17 (0014.jp2)
  10. 第2章 単一陰極点アークの陰極現象 / p19 (0015.jp2)
  11. 2.1 序論 / p19 (0015.jp2)
  12. 2.2 電極入力の測定 / p23 (0017.jp2)
  13. 2.3 陰極点の基本方程式 / p29 (0020.jp2)
  14. 2.4 解法の概要と計算結果 / p40 (0026.jp2)
  15. 2.5 検討 / p45 (0028.jp2)
  16. 2.6 まとめ / p51 (0031.jp2)
  17. 第2章の参考文献 / p52 (0032.jp2)
  18. 第3章 単一陰極点アークのプラズマ領域の特性 / p54 (0033.jp2)
  19. 3.1 序論 / p54 (0033.jp2)
  20. 3.2 電子温度と流れ速度の測定 / p56 (0034.jp2)
  21. 3.3 真空アークの強制弧後の残留プラズマイオンの特性 / p61 (0036.jp2)
  22. 3.4 実験結果の解析 / p70 (0041.jp2)
  23. 3.5 まとめ / p80 (0046.jp2)
  24. 第3章の参考文献 / p81 (0046.jp2)
  25. 第4章 種々の磁場配位中の真空アークの振舞い / p82 (0047.jp2)
  26. 4.1 序論 / p82 (0047.jp2)
  27. 4.2 実験回路と装置 / p83 (0047.jp2)
  28. 4.3 種々の磁場配位中での大電流アークの振舞い / p86 (0049.jp2)
  29. 4.4 アーク安定化に必要な磁場強度および陽光柱電場 / p97 (0054.jp2)
  30. 4.5 軸方向磁場中の単一陰極点アーク / p101 (0056.jp2)
  31. 4.6 短間隙での磁場安定化大電流真空アーク / p106 (0059.jp2)
  32. 4.7 まとめ / p109 (0060.jp2)
  33. 第4章の参考文献 / p110 (0061.jp2)
  34. 第5章 磁場安定化大電流アークのプラズマパラメータの測定 / p111 (0061.jp2)
  35. 5.1 序論 / p111 (0061.jp2)
  36. 5.2 静電プローブによる測定 / p112 (0062.jp2)
  37. 5.3 磁気プローブによるプラズマ圧力の測定 / p131 (0072.jp2)
  38. 5.4 分光測定 / p139 (0076.jp2)
  39. 5.5 まとめ / p151 (0082.jp2)
  40. 第5章の参考文献 / p152 (0083.jp2)
  41. 第6章 磁場で安定化された大電流真空アークの理論解析 / p153 (0083.jp2)
  42. 6.1 序論 / p153 (0083.jp2)
  43. 6.2 仮定とその妥当性の検討 / p153 (0083.jp2)
  44. 6.3 基礎方程式 / p157 (0085.jp2)
  45. 6.4 陽光柱のパワーバランス / p165 (0089.jp2)
  46. 6.5 まとめ / p170 (0092.jp2)
  47. 第6章の参考文献 / p171 (0092.jp2)
  48. 第7章 結論 / p172 (0093.jp2)
  49. 謝辞 / p176 (0095.jp2)
  50. 附録 / p177 (0095.jp2)
  51. 〔I〕電子放出の式 / p177 (0095.jp2)
  52. 〔II〕電子放出の冷却効果 / p178 (0096.jp2)
  53. 〔III〕陰極点痕跡から求めた電流密度 / p179 (0096.jp2)
  54. 研究業績 / p181 (0097.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000088514
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000088733
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000252828
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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