電界電子放射・イオン顕微鏡にPd吸着現象とアトムプローブFIMによるNb内の水素分析

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著者

    • 奥野, 公夫 オクノ, キミオ

書誌事項

タイトル

電界電子放射・イオン顕微鏡にPd吸着現象とアトムプローブFIMによるNb内の水素分析

著者名

奥野, 公夫

著者別名

オクノ, キミオ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

乙第2325号

学位授与年月日

1992-03-31

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 【目次】 / p3 (0006.jp2)
  3. 第I章 緒論 / p1 (0008.jp2)
  4. 第II章 今までの成果と問題点 / p5 (0012.jp2)
  5. 第III章 装置の原理と開発 / p10 (0017.jp2)
  6. III-1-1 FEMの原理 / p10 (0017.jp2)
  7. III-1-2 Fowler - Nordheim 方程式 / p12 (0019.jp2)
  8. III-1-3 Fowler - Nordheim式から仕事関数Фと実効電界強度Fの測定 / p13 (0020.jp2)
  9. III-1-4 FEM像の倍率と分解能 / p14 (0021.jp2)
  10. III-2-1 電界イオン顕微鏡の原理 / p17 (0024.jp2)
  11. III-2-2 電界蒸発 / p21 (0028.jp2)
  12. III-2-3 電界イオン顕微鏡の開発 / p25 (0032.jp2)
  13. III-2-4 飛行時間型アトムプローブ電界イオン顕微鏡の原理 / p36 (0043.jp2)
  14. 第IV章 W表面上のPdの電界電子放射顕徴鏡による観察 / p41 (0048.jp2)
  15. IV-1-1 FEM装置 / p41 (0048.jp2)
  16. IV-1-2 試料の作成方法 / p46 (0053.jp2)
  17. IV-2 W表面上のpdの蒸着 / p47 (0054.jp2)
  18. IV-3 W表面上のpdの拡散 / p50 (0057.jp2)
  19. IV-4 W表面上のPd層の熱脱離過程 / p55 (0062.jp2)
  20. IV-5 W表面上のPdの脱離エネルギー / p59 (0066.jp2)
  21. IV-6 W表面上のPdとHの共吸着 / p63 (0070.jp2)
  22. IV-7 結論 / p70 (0077.jp2)
  23. 第V章 W表面上のPdの電界蒸発 / p71 (0078.jp2)
  24. V-1 実験方法 / p71 (0078.jp2)
  25. V-2 W表面上のPdの電界蒸発 / p73 (0080.jp2)
  26. V-3 T=300KでのW(112),W(O11),W(111)上のPdの電界蒸発 / p75 (0082.jp2)
  27. V-4 T=77KでのW(011),W(112)上のPdの電界蒸発 / p78 (0085.jp2)
  28. V-5 結論 / p82 (0089.jp2)
  29. 第VI章 W,Mo表面上のPdの電界イオン顕微鏡による観察 / p83 (0090.jp2)
  30. VI-1 実験方法 / p83 (0090.jp2)
  31. VI-2 Pd-W界面の最も安定なPd層のFIM観察 / p85 (0092.jp2)
  32. VI-3 W(011)面上のPdの吸着構造 / p88 (0095.jp2)
  33. VI-4 W表面上のPdの脱離電界強度 / p91 (0098.jp2)
  34. VI-5 Mo表面上のFIM観察との比較 / p96 (0103.jp2)
  35. VI-6 W,Mo,Ta,Nb表面上のPd単原子層の脱離電界強度の比較 / p99 (0106.jp2)
  36. VI-7 W,Mo表面上のPdの水素によるFIM観察 / p103 (0110.jp2)
  37. VI-8 W(O11),Mo(O11)面上のPd単原子層の脱離電界強度の水素圧依存性 / p112 (0119.jp2)
  38. VI-9 結論 / p115 (0122.jp2)
  39. 第VII章 飛行時間型アトムプローブ電界イオン顕微鏡によるNb内の水素分析 / p116 (0123.jp2)
  40. VII-1 NbのH吸収 / p116 (0123.jp2)
  41. VII-2 Nb試料の作成 / p117 (0124.jp2)
  42. VII-3 Nb内の水素のAP-FIMによる分析 / p118 (0125.jp2)
  43. VII-4 分析イオン種Nb²⁺,Nb³⁺,NbH²⁺と吸収Hとの相関 / p123 (0130.jp2)
  44. VII-5 低水素濃度NbのA-P分析 / p125 (0132.jp2)
  45. VII-6 Nb内の吸蔵水素の熱放出と吸収効果 / p126 (0133.jp2)
  46. VII-7 Nb内への水素の吸収 / p129 (0136.jp2)
  47. VII-8 電界電子放射顕微鏡(FEM)によるNb上の水素吸着 / p134 (0141.jp2)
  48. VII-9 Nb内の吸蔵水素がNbの蒸発電界強度に及ぼす影響 / p137 (0144.jp2)
  49. VII-10 結論 / p140 (0147.jp2)
  50. 第VIII章 総括 / p141 (0148.jp2)
  51. 参考文献 / p143 (0150.jp2)
  52. 謝辞 / p148 (0155.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000088574
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000088793
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000252888
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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