反射型小角X線散乱法による積層薄膜の構造解析

この論文をさがす

著者

    • 笹沼, 裕二 ササヌマ, ユウジ

書誌事項

タイトル

反射型小角X線散乱法による積層薄膜の構造解析

著者名

笹沼, 裕二

著者別名

ササヌマ, ユウジ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第3332号

学位授与年月日

1992-03-31

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0002.jp2)
  2. 目次 / p1 (0004.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  4. 引用文献 / p7 (0013.jp2)
  5. 第2章 反射型Kratkyカメラを用いた小角X線散乱測定システムの開発 / p9 (0015.jp2)
  6. 2.1 緒言 / p10 (0016.jp2)
  7. 2.2 試作した反射型Kratkyカメラの構成と仕様 / p14 (0020.jp2)
  8. 2.3 システムのハードウェアの構成 / p16 (0022.jp2)
  9. 2.4 反射型Kratkyカメラの回折強度補正 / p21 (0027.jp2)
  10. 2.5 反射型Kratkyカメラの回折プロフィール補正(装置関数補正) / p23 (0029.jp2)
  11. 2.6 システムのソフトウェアの構成 / p26 (0032.jp2)
  12. 2.7 システムの性能と積層薄膜への応用 / p28 (0034.jp2)
  13. 2.8 結論 / p32 (0038.jp2)
  14. 引用文献 / p34 (0040.jp2)
  15. 第3章 積層薄膜の構造秩序性の解析法 / p37 (0043.jp2)
  16. 3.1 緒言 / p38 (0044.jp2)
  17. 3.2 周期単位の大きさ / p38 (0044.jp2)
  18. 3.3 反射強度比 / p39 (0045.jp2)
  19. 3.4 フーリエ合成 / p40 (0046.jp2)
  20. 3.5 LB膜の格子歪み / p42 (0048.jp2)
  21. 3.6 超格子薄膜の回折強度 / p43 (0049.jp2)
  22. 引用文献 / p51 (0057.jp2)
  23. 第4章 ステアリン酸鉛LB膜の格子歪み解析 / p52 (0058.jp2)
  24. 4.1 緒言 / p53 (0059.jp2)
  25. 4.2 実験 / p53 (0059.jp2)
  26. 4.3 結果と考察 / p54 (0060.jp2)
  27. 4.4 結論 / p66 (0072.jp2)
  28. 引用文献 / p68 (0074.jp2)
  29. 第5章 アラキジン酸カドミウムLB膜の熱転移挙動 / p70 (0076.jp2)
  30. 5.1 緒言 / p71 (0077.jp2)
  31. 5.2 実験 / p72 (0078.jp2)
  32. 5.3 結果と考察 / p73 (0079.jp2)
  33. 5.4 結論 / p82 (0088.jp2)
  34. 引用文献 / p83 (0089.jp2)
  35. 第6章 超格子構造における界面の乱れ / p85 (0091.jp2)
  36. 6.1 緒言 / p86 (0092.jp2)
  37. 6.2 解析結果 / p86 (0092.jp2)
  38. 6.3 考察 / p90 (0096.jp2)
  39. 6.4 界面の乱れと回折強度分布 / p92 (0098.jp2)
  40. 6.5 結論 / p97 (0103.jp2)
  41. 引用文献 / p99 (0105.jp2)
  42. 第7章 総括 / p100 (0106.jp2)
  43. 謝辞 / p104 (0110.jp2)
0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000088581
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000088800
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000252895
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ