反射型小角X線散乱法による積層薄膜の構造解析
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Author
Bibliographic Information
- Title
-
反射型小角X線散乱法による積層薄膜の構造解析
- Author
-
笹沼, 裕二
- Author(Another name)
-
ササヌマ, ユウジ
- University
-
東京工業大学
- Types of degree
-
工学博士
- Grant ID
-
乙第3332号
- Degree year
-
1992-03-31
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 論文目録 / (0002.jp2)
- 目次 / p1 (0004.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
- 引用文献 / p7 (0013.jp2)
- 第2章 反射型Kratkyカメラを用いた小角X線散乱測定システムの開発 / p9 (0015.jp2)
- 2.1 緒言 / p10 (0016.jp2)
- 2.2 試作した反射型Kratkyカメラの構成と仕様 / p14 (0020.jp2)
- 2.3 システムのハードウェアの構成 / p16 (0022.jp2)
- 2.4 反射型Kratkyカメラの回折強度補正 / p21 (0027.jp2)
- 2.5 反射型Kratkyカメラの回折プロフィール補正(装置関数補正) / p23 (0029.jp2)
- 2.6 システムのソフトウェアの構成 / p26 (0032.jp2)
- 2.7 システムの性能と積層薄膜への応用 / p28 (0034.jp2)
- 2.8 結論 / p32 (0038.jp2)
- 引用文献 / p34 (0040.jp2)
- 第3章 積層薄膜の構造秩序性の解析法 / p37 (0043.jp2)
- 3.1 緒言 / p38 (0044.jp2)
- 3.2 周期単位の大きさ / p38 (0044.jp2)
- 3.3 反射強度比 / p39 (0045.jp2)
- 3.4 フーリエ合成 / p40 (0046.jp2)
- 3.5 LB膜の格子歪み / p42 (0048.jp2)
- 3.6 超格子薄膜の回折強度 / p43 (0049.jp2)
- 引用文献 / p51 (0057.jp2)
- 第4章 ステアリン酸鉛LB膜の格子歪み解析 / p52 (0058.jp2)
- 4.1 緒言 / p53 (0059.jp2)
- 4.2 実験 / p53 (0059.jp2)
- 4.3 結果と考察 / p54 (0060.jp2)
- 4.4 結論 / p66 (0072.jp2)
- 引用文献 / p68 (0074.jp2)
- 第5章 アラキジン酸カドミウムLB膜の熱転移挙動 / p70 (0076.jp2)
- 5.1 緒言 / p71 (0077.jp2)
- 5.2 実験 / p72 (0078.jp2)
- 5.3 結果と考察 / p73 (0079.jp2)
- 5.4 結論 / p82 (0088.jp2)
- 引用文献 / p83 (0089.jp2)
- 第6章 超格子構造における界面の乱れ / p85 (0091.jp2)
- 6.1 緒言 / p86 (0092.jp2)
- 6.2 解析結果 / p86 (0092.jp2)
- 6.3 考察 / p90 (0096.jp2)
- 6.4 界面の乱れと回折強度分布 / p92 (0098.jp2)
- 6.5 結論 / p97 (0103.jp2)
- 引用文献 / p99 (0105.jp2)
- 第7章 総括 / p100 (0106.jp2)
- 謝辞 / p104 (0110.jp2)