結晶性高分子材料の有限ひずみ域における構成式に関する研究

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著者

    • 邱, 建輝 チウ, チェンホイ

書誌事項

タイトル

結晶性高分子材料の有限ひずみ域における構成式に関する研究

著者名

邱, 建輝

著者別名

チウ, チェンホイ

学位授与大学

金沢大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第1109号

学位授与年月日

1992-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 構成式 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 緒言 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 構成式 / p3 (0006.jp2)
  5. 1.3 過応力理論 / p8 (0009.jp2)
  6. 1.4 多軸負荷条件への過応力モデルの拡張 / p18 (0014.jp2)
  7. 参考文献 / p21 (0015.jp2)
  8. 第2章 実験材料および装置 / p23 (0016.jp2)
  9. 2.1 実験材料 / p23 (0016.jp2)
  10. 2.2 試験片および実験装置 / p24 (0017.jp2)
  11. 参考文献 / p36 (0023.jp2)
  12. 第3章 単調ひずみ増加試験 / p37 (0023.jp2)
  13. 3.1 試験方法および条件 / p37 (0023.jp2)
  14. 3.2 実験結果および考察 / p39 (0024.jp2)
  15. 3.3 過応力型構成式の適用 / p54 (0032.jp2)
  16. 3.4 実験結果と数値計算の比較 / p63 (0036.jp2)
  17. 3.5 結論 / p65 (0037.jp2)
  18. 参考文献 / p66 (0038.jp2)
  19. 第4章 ひずみ反転試験 / p67 (0038.jp2)
  20. 4.1 試験方法および条件 / p67 (0038.jp2)
  21. 4.2 ひずみ反転後の変形挙動 / p71 (0040.jp2)
  22. 4.3 両振り繰り返し試験 / p76 (0043.jp2)
  23. 4.4 片振り試験 / p86 (0048.jp2)
  24. 4.5 ひずみ振幅変化試験 / p88 (0049.jp2)
  25. 4.6 結論 / p93 (0051.jp2)
  26. 参考文献 / p95 (0052.jp2)
  27. 第5章 複雑なひずみ経路試験 / p96 (0053.jp2)
  28. 5.1 試験条件 / p96 (0053.jp2)
  29. 5.2 繰り返し試験結果 / p101 (0055.jp2)
  30. 5.3 各ひずみ経路に対する応力緩和 / p117 (0063.jp2)
  31. 5.4 先行繰り返しひずみ経路の影響 / p119 (0064.jp2)
  32. 5.5 ひずみ変形とクリープの相互作用 / p123 (0066.jp2)
  33. 5.6 結論 / p131 (0070.jp2)
  34. 参考文献 / p133 (0071.jp2)
  35. 第6章 結言 / p134 (0072.jp2)
  36. 結言 / p134 (0072.jp2)
  37. 謝辞 / p138 (0074.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000089058
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000089278
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000253372
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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