超伝導応用機器部材の4K疲労特性および疲労設計基準に関する研究
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著者
書誌事項
- タイトル
-
超伝導応用機器部材の4K疲労特性および疲労設計基準に関する研究
- 著者名
-
鈴木, 謙一
- 著者別名
-
スズキ, ケンイチ
- 学位授与大学
-
東北大学
- 取得学位
-
工学博士
- 学位授与番号
-
乙第5832号
- 学位授与年月日
-
1992-07-08
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 / p1 (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
- 第2章 液体ヘリウム温度(4K)での疲労試験技術 / p9 (0014.jp2)
- 2.1 緒言 / p9 (0014.jp2)
- 2.2 疲労試験用クライオスタットの開発 / p10 (0015.jp2)
- 2.3 疲労き裂進展試験用パソコンシステムの開発 / p12 (0017.jp2)
- 2.4 結論 / p13 (0018.jp2)
- 第3章 き裂発生に関する4K低サイクル疲労特性評価 / p22 (0027.jp2)
- 3.1 緒言 / p22 (0027.jp2)
- 3.2 試験方法 / p23 (0028.jp2)
- 3.3 結果および考察 / p24 (0029.jp2)
- 3.4 結論 / p28 (0033.jp2)
- 第4章 透磁率増加に関する4K低サイクル疲労特性評価 / p54 (0059.jp2)
- 4.1 緒言 / p54 (0059.jp2)
- 4.2 試験方法 / p55 (0060.jp2)
- 4.3 結果および考察 / p56 (0061.jp2)
- 4.4 結論 / p59 (0064.jp2)
- 第5章 き裂進展に関する4K高サイクル疲労特性評価 / p75 (0080.jp2)
- 5.1 緒言 / p75 (0080.jp2)
- 5.2 試験方法 / p76 (0081.jp2)
- 5.3 試験結果 / p77 (0082.jp2)
- 5.4 考察 / p80 (0085.jp2)
- 5.5 結論 / p85 (0090.jp2)
- 第6章 疲労き裂発生･進展および透磁率増加防止に関する4K疲労設計基準 / p114 (0119.jp2)
- 6.1 超伝導応用機器部材の疲労設計における基本的考え方 / p114 (0119.jp2)
- 6.2 低サイクル疲労によるき裂発生防止に関する基準 / p116 (0121.jp2)
- 6.3 低サイクル疲労による透磁率増加防止に関する基準 / p118 (0123.jp2)
- 6.4 高サイクル疲労によるき裂進展防止に関する基準 / p121 (0126.jp2)
- 6.5 まとめ / p124 (0129.jp2)
- 第7章 結論 / p142 (0147.jp2)
- 参考文献 / p146 (0151.jp2)
- 謝辞 / p149 (0154.jp2)