大容量ディジタル情報記憶の高信頼化の研究

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Author

    • 齊藤, 実 サイトウ, ミノル

Bibliographic Information

Title

大容量ディジタル情報記憶の高信頼化の研究

Author

齊藤, 実

Author(Another name)

サイトウ, ミノル

University

名古屋大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

乙第4051号

Degree year

1991-10-28

Note and Description

博士論文

名古屋大学博士学位論文 学位の種類:工学博士 (論文) 学位授与年月日:平成3年10月28日

Table of Contents

  1. 目次 / p1 (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 研究の目的と意義 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 研究の背景 / p2 (0006.jp2)
  5. 1.3 本論文の構成と概要 / p11 (0010.jp2)
  6. 第2章 磁気バブル記憶の誤り特性 / p19 (0014.jp2)
  7. 2.1 緒言 / p19 (0014.jp2)
  8. 2.2 磁気バブル記憶装置の概要 / p21 (0015.jp2)
  9. 2.3 測定システム / p31 (0020.jp2)
  10. 2.4 測定結果と考察 / p34 (0022.jp2)
  11. 2.5 結言 / p41 (0025.jp2)
  12. 第3章 磁気バブル記憶の欠陥救済方式 / p44 (0027.jp2)
  13. 3.1 緒言 / p44 (0027.jp2)
  14. 3.2 欠陥救済方式の解析 / p45 (0027.jp2)
  15. 3.3 誤り訂正符号の適用法 / p62 (0036.jp2)
  16. 3.4 結言 / p73 (0041.jp2)
  17. 第4章 光ディスク記憶の記録再生特性 / p76 (0043.jp2)
  18. 4.1 緒言 / p76 (0043.jp2)
  19. 4.2 測定対象 / p77 (0043.jp2)
  20. 4.3 測定システム / p78 (0044.jp2)
  21. 4.4 測定結果と考察 / p83 (0046.jp2)
  22. 4.5 結言 / p99 (0054.jp2)
  23. 第5章 光ディスク記憶の誤り特性 / p101 (0055.jp2)
  24. 5.1 緒言 / p101 (0055.jp2)
  25. 5.2 測定方法 / p101 (0055.jp2)
  26. 5.3 初期特性の測定結果 / p106 (0058.jp2)
  27. 5.4 加速劣化特性の測定結果 / p122 (0066.jp2)
  28. 5.5 結言 / p130 (0070.jp2)
  29. 第6章 光ディスク記憶の誤り特性のモデル化 / p133 (0071.jp2)
  30. 6.1 緒言 / p133 (0071.jp2)
  31. 6.2 合成ギルバートモデル / p134 (0072.jp2)
  32. 6.3 欠陥形状に基づく統計モデル / p138 (0074.jp2)
  33. 6.4 結言 / p142 (0076.jp2)
  34. 第7章 光ディスク記憶の交代処理方式 / p145 (0077.jp2)
  35. 7.1 緒言 / p145 (0077.jp2)
  36. 7.2 交代処理方式の概要 / p147 (0078.jp2)
  37. 7.3 交代発生確率の解析 / p149 (0079.jp2)
  38. 7.4 欠陥救済確率の解析 / p161 (0085.jp2)
  39. 7.5 結言 / p164 (0087.jp2)
  40. 第8章 光ディスク記憶の誤り訂正方式 / p167 (0088.jp2)
  41. 8.1 緒言 / p167 (0088.jp2)
  42. 8.2 データ誤り率の解析 / p168 (0089.jp2)
  43. 8.3 アドレス誤り率の解析 / p182 (0096.jp2)
  44. 8.4 再同期パターンの構成法 / p185 (0097.jp2)
  45. 8.5 結言 / p188 (0099.jp2)
  46. 第9章 光ディスク記憶の長期信頼度推定法 / p191 (0100.jp2)
  47. 9.1 緒言 / p191 (0100.jp2)
  48. 9.2 加速劣化特性の測定方法 / p192 (0101.jp2)
  49. 9.3 媒体寿命予測手法 / p193 (0101.jp2)
  50. 9.4 結言 / p200 (0105.jp2)
  51. 第10章 光ディスク記憶装置へのフォールトトレラント技術の適用成果 / p203 (0106.jp2)
  52. 10.1 緒言 / p203 (0106.jp2)
  53. 10.2 130mm径書換型光ディスク装置 / p203 (0106.jp2)
  54. 10.3 90mm径書換型光ディスク装置 / p208 (0109.jp2)
  55. 10.4 結言 / p215 (0112.jp2)
  56. 第11章 まとめ / p217 (0113.jp2)
  57. 謝辞 / p221 (0115.jp2)
2access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000090419
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000090640
  • DOI(NDL)
  • Text Lang
    • jpn
  • NDLBibID
    • 000000254733
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
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