Improvement of positive temperature coefficient resistivity properties by grain boundary oxidation of BaTiO[3] 粒界酸化によるBaTiO[3]のPTCR特性の向上

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著者

    • Huybrechts Ben Joseph ヒューブレヒツ ベン ジョセフ

書誌事項

タイトル

Improvement of positive temperature coefficient resistivity properties by grain boundary oxidation of BaTiO[3]

タイトル別名

粒界酸化によるBaTiO[3]のPTCR特性の向上

著者名

Huybrechts Ben Joseph

著者別名

ヒューブレヒツ ベン ジョセフ

学位授与大学

長岡技術科学大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第68号

学位授与年月日

1992-09-30

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / (0004.jp2)
  2. Acknowledgements / p3 (0003.jp2)
  3. Japanese abstract / p9 (0006.jp2)
  4. Scope and aim of the thesis / p11 (0007.jp2)
  5. Chapter I:Positive temperature coefficient of resistivity:a review / p13 (0008.jp2)
  6. 1.1.Introduction / p14 (0009.jp2)
  7. 1.2.The Heywang model / p15 (0009.jp2)
  8. 1.3.The Jonker model / p24 (0014.jp2)
  9. 1.4.The Daniels and Wernicke model / p25 (0014.jp2)
  10. 1.5.Discussion / p29 (0016.jp2)
  11. 1.6.Conclusions / p38 (0021.jp2)
  12. Chapter II:Experimental prove for the low temperature acceptor state compensation in positive temperature coefficient resistivity type BaTiO₃. / p41 (0022.jp2)
  13. 2.1.Introduction / p42 (0023.jp2)
  14. 2.2.Experimental / p42 (0023.jp2)
  15. 2.3.Results and discussion / p45 (0024.jp2)
  16. 2.4.Conclusions / p50 (0027.jp2)
  17. Chapter III:Grain boundary oxidation of non acceptor doped semiconductive BaTiO₃. / p53 (0028.jp2)
  18. 3.1.Introduction / p54 (0029.jp2)
  19. 3.2.Experimental / p55 (0029.jp2)
  20. 3.3.Results / p56 (0030.jp2)
  21. 3.4.Discussion / p58 (0031.jp2)
  22. 3.5.Conclusions / p59 (0031.jp2)
  23. Chapter IV:Grain boundary oxidation of acceptor doped semiconductive barium strontium titanate. / p61 (0032.jp2)
  24. 4.1.Introduction / p62 (0033.jp2)
  25. 4.2.Experimental / p62 (0033.jp2)
  26. 4.3.Results / p63 (0033.jp2)
  27. 4.4.Discussion / p66 (0035.jp2)
  28. 4.5. Conclusions / p75 (0039.jp2)
  29. Chapter V:A phenomelogical PTCR-model related to the grain boundary oxidation of acceptor donor codoped BaTiO₃ / p77 (0040.jp2)
  30. 5.1.Introduction / p78 (0041.jp2)
  31. 5.2.A phenomelogical PTCR-chart / p79 (0041.jp2)
  32. 5.3.Computer calculations / p81 (0042.jp2)
  33. 5.4.Recommendations / p84 (0044.jp2)
  34. Chapter VI:General conclusions and recommendations / p87 (0045.jp2)
  35. Glossary of symbols / p91 (0047.jp2)
  36. References / p93 (0048.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000090547
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000090768
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000254861
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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