電子貯蔵リングにおけるマイクロパーティクルのトラッピング現象の観測と解析 Observation and analysis of microparticle trapping phenomena in an electron strage ring

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著者

    • 佐伯, 宏 サエキ, ヒロシ

書誌事項

タイトル

電子貯蔵リングにおけるマイクロパーティクルのトラッピング現象の観測と解析

タイトル別名

Observation and analysis of microparticle trapping phenomena in an electron strage ring

著者名

佐伯, 宏

著者別名

サエキ, ヒロシ

学位授与大学

総合研究大学院大学

取得学位

学術博士

学位授与番号

甲第30号

学位授与年月日

1992-03-31

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / p5 (0005.jp2)
  2. 論文概要 / p1 (0003.jp2)
  3. 本論文に使用せる記号 / p3 (0004.jp2)
  4. 目次 / p5 (0005.jp2)
  5. 第I章 緒言 / p1 (0006.jp2)
  6. I-A 序論 / p1 (0006.jp2)
  7. I-B マイクロパーティクルのトラッピング現象と思われる観測例 / p1 (0006.jp2)
  8. I-C 本研究の目的 / p7 (0009.jp2)
  9. 参考文献 / p9 (0010.jp2)
  10. 第II章 観測 / p11 (0011.jp2)
  11. II-A 序論 / p11 (0011.jp2)
  12. II-B 鉛ガラスカウンターとそのエネルギー較正 / p12 (0012.jp2)
  13. II-C 観測 / p15 (0013.jp2)
  14. II-D 考察 / p27 (0019.jp2)
  15. II-E まとめ / p30 (0021.jp2)
  16. 参考文献 / p30 (0021.jp2)
  17. 第III章 マイクロパーティクルの運動 / p32 (0022.jp2)
  18. III-A 序論 / p32 (0022.jp2)
  19. III-B 電子ビームヘトラップされるまでの過程 / p32 (0022.jp2)
  20. III-C 電子ビーム周辺でのトラップされたマイクロパーティクルの運動 / p36 (0024.jp2)
  21. III-D 近似計算と観測データとの比較ならびにその考察 / p37 (0024.jp2)
  22. III-E ビーム寿命についての考察 / p39 (0025.jp2)
  23. III-F まとめ / p40 (0026.jp2)
  24. 参考文献 / p41 (0026.jp2)
  25. 第IV章 ARでのマイクロパーティクルのトラッピング実験 / p42 (0027.jp2)
  26. IV-A 序論 / p42 (0027.jp2)
  27. IV-B 実験 / p42 (0027.jp2)
  28. IV-C 考察 / p46 (0029.jp2)
  29. IV-D まとめ / p50 (0031.jp2)
  30. 第V章 結言 / p52 (0032.jp2)
  31. 謝辞 / p53 (0032.jp2)
  32. 付録1 マイクロパーティクルのトラッピングの基礎実験 / p55 (0033.jp2)
  33. A 序論 / p55 (0033.jp2)
  34. B 実験装置 / p55 (0033.jp2)
  35. C 実験と結果 / p58 (0035.jp2)
  36. D 考察 / p60 (0036.jp2)
  37. E まとめ / p62 (0037.jp2)
  38. 参考文献 / p62 (0037.jp2)
  39. 付録2 ビームダクト内のマイクロパーティクルの調査 / p64 (0038.jp2)
  40. 付録3 参考文献 / p81 (0047.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000090620
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000090841
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000254934
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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