高分子絶縁材料の高次構造とトリー劣化に関する研究

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著者

    • 山北, 隆征 ヤマキタ, タカユキ

書誌事項

タイトル

高分子絶縁材料の高次構造とトリー劣化に関する研究

著者名

山北, 隆征

著者別名

ヤマキタ, タカユキ

学位授与大学

関西大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第153号

学位授与年月日

1992-09-22

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文要旨 / p1 (0003.jp2)
  2. 目次 / p2 (0004.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.1 本研究の目的 / p1 (0006.jp2)
  5. 1.2 トリー劣化に関するこれまでの研究の状況 / p3 (0007.jp2)
  6. 1.3 論文構成 / p5 (0008.jp2)
  7. 第1章の参考文献 / p6 (0009.jp2)
  8. 第2章 結晶性高分子中でのトリー劣化の連続観察法 / p8 (0010.jp2)
  9. 2.1 標準トリー試験用試料とトリー発生電圧の測定方法 / p8 (0010.jp2)
  10. 2.2 ポリエチレン、ポリプロピレンの球晶形状について / p9 (0010.jp2)
  11. 2.3 新しいトリー試験用試料の作成と観察法 / p12 (0013.jp2)
  12. 第2章の参考文献 / p16 (0016.jp2)
  13. 第3章 ポリプロピレンの球晶とトリー劣化について / p17 (0016.jp2)
  14. 3.1 緒言 / p17 (0016.jp2)
  15. 3.2 試料作成と実験方法 / p18 (0017.jp2)
  16. 3.3 実験結果と考察 / p19 (0017.jp2)
  17. 3.4 結言 / p31 (0028.jp2)
  18. 第3章の参考文献 / p32 (0029.jp2)
  19. 第4章 ポリエチレンの高次構造と初期トリーについて / p33 (0029.jp2)
  20. 4.1 緒言 / p33 (0029.jp2)
  21. 4.2 試料作成と実験方法 / p33 (0029.jp2)
  22. 4.3 実験結果と考察 / p35 (0030.jp2)
  23. 4.4 結言 / p46 (0038.jp2)
  24. 第4章の参考文献 / p47 (0039.jp2)
  25. 第5章 ブレンドポリエチレンの高次構造とトリー発生について / p48 (0039.jp2)
  26. 5.1 緒言 / p48 (0039.jp2)
  27. 5.2 試料作成と実験方法 / p49 (0040.jp2)
  28. 5.3 実験結果と考察 / p50 (0040.jp2)
  29. 5.4 結言 / p61 (0048.jp2)
  30. 第5章の参考文献 / p62 (0049.jp2)
  31. 第6章 ポリエチレンの温度による高次構造の変化とトリー発生電圧の関係について / p63 (0049.jp2)
  32. 6.1 緒言 / p63 (0049.jp2)
  33. 6.2 試料と実験方法 / p63 (0049.jp2)
  34. 6.3 種々の温度での結晶化度の測定 / p64 (0050.jp2)
  35. 6.4 粘弾性測定法による剛性率、弾性損失の測定 / p66 (0051.jp2)
  36. 6.5 レーザー小角光散乱法による球晶直径の測定 / p68 (0052.jp2)
  37. 6.6 種々の温度でのトリー形状 / p71 (0053.jp2)
  38. 6.7 トリー発生電圧と温度との関係 / p72 (0054.jp2)
  39. 6.8 結言 / p75 (0055.jp2)
  40. 第6章の参考文献 / p76 (0056.jp2)
  41. 第7章 ポリエチレンの溶融状態でのトリー現象について / p77 (0056.jp2)
  42. 7.1 緒言 / p77 (0056.jp2)
  43. 7.2 試料と実験方法 / p77 (0056.jp2)
  44. 7.3 融点以上の温度でのトリー形状の観察 / p78 (0057.jp2)
  45. 7.4 融点以上の温度でのトリー発生電圧と温度との関係 / p80 (0058.jp2)
  46. 7.5 結言 / p81 (0058.jp2)
  47. 第7章の参考文献 / p82 (0059.jp2)
  48. 第8章 結論 / p83 (0059.jp2)
  49. 謝辞 / p86 (0061.jp2)
  50. 研究業績 / p87 (0061.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000090963
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000091185
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000255277
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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