ハーメチックシール接点および応用製品の信頼性に関する研究

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著者

    • 飯盛, 憲一 イイモリ, ケンイチ

書誌事項

タイトル

ハーメチックシール接点および応用製品の信頼性に関する研究

著者名

飯盛, 憲一

著者別名

イイモリ, ケンイチ

学位授与大学

九州大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第5248号

学位授与年月日

1992-09-28

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0007.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0011.jp2)
  3. 第2章 信頼性目標と実用化の課題 / p7 (0017.jp2)
  4. 2.1 信頼性目標 / p7 (0017.jp2)
  5. 2.2 現状の制御用スイッチの問題点 / p7 (0017.jp2)
  6. 2.3 信頼性改善と基礎データ / p9 (0019.jp2)
  7. 2.4 制御用スイッチの問題点と対策のまとめ / p19 (0029.jp2)
  8. 2.5 技術的課題 / p22 (0032.jp2)
  9. 第3章 ハーメチックシール接点の設計 / p24 (0034.jp2)
  10. 3.1 まえがき / p24 (0034.jp2)
  11. 3.2 ハーメチックシール接点の基本構想 / p24 (0034.jp2)
  12. 3.3 吸引力特性 / p33 (0043.jp2)
  13. 3.4 まとめ / p42 (0052.jp2)
  14. 第4章 不平等磁界中でのハーメチックシール接点の駆動 / p44 (0054.jp2)
  15. 4.1 まえがき / p44 (0054.jp2)
  16. 4.2 磁化エネルギー / p44 (0054.jp2)
  17. 4.3 円筒状空心コイルによる駆動 / p48 (0058.jp2)
  18. 4.4 永久磁石による駆動 / p52 (0062.jp2)
  19. 4.5 まとめ / p62 (0072.jp2)
  20. 第5章 経時劣化要因と信頼性保証 / p63 (0073.jp2)
  21. 5.1 まえがき / p63 (0073.jp2)
  22. 5.2 ガラス割れ / p63 (0073.jp2)
  23. 5.3 ばね熱応力緩和 / p77 (0087.jp2)
  24. 5.4 まとめ / p86 (0096.jp2)
  25. 第6章 接触抵抗と接触信頼性 / p88 (0098.jp2)
  26. 6.1 まえがき / p88 (0098.jp2)
  27. 6.2 実験方法 / p89 (0099.jp2)
  28. 6.3 製造工程と接触抵抗 / p91 (0101.jp2)
  29. 6.4 実験結果 / p93 (0103.jp2)
  30. 6.5 考察 / p96 (0106.jp2)
  31. 6.6 まとめ / p104 (0114.jp2)
  32. 第7章 直流負荷開閉時における接触信頼性 / p105 (0115.jp2)
  33. 7.1 まえがき / p105 (0115.jp2)
  34. 7.2 実験の方法 / p106 (0116.jp2)
  35. 7.3 負荷の種類と故障モード / p106 (0116.jp2)
  36. 7.4 直流誘導負荷についての考察 / p114 (0124.jp2)
  37. 7.5 まとめ / p130 (0140.jp2)
  38. 第8章 磁気近接センサに及ぼすケーブルの影響 / p131 (0141.jp2)
  39. 8.1 まえがき / p131 (0141.jp2)
  40. 8.2 ケーブル接続時の突入電流 / p132 (0142.jp2)
  41. 8.3 ケーブル長さと接点現象 / p136 (0146.jp2)
  42. 8.4 磁気近接センサによる実負荷開閉寿命試験 / p139 (0149.jp2)
  43. 8.5 まとめ / p141 (0151.jp2)
  44. 第9章 信頼性保証と運用信頼性実績 / p142 (0152.jp2)
  45. 9.1 まえがき / p142 (0152.jp2)
  46. 9.2 信頼性プログラム / p142 (0152.jp2)
  47. 9.3 信頼性の作り込み / p143 (0153.jp2)
  48. 9.4 信頼性の評価と確認 / p145 (0155.jp2)
  49. 9.5 製品体系 / p152 (0162.jp2)
  50. 9.6 主要用途での運用信頼性実績 / p154 (0164.jp2)
  51. 9.7 まとめ / p165 (0175.jp2)
  52. 第10章 結論 / p166 (0176.jp2)
  53. 謝辞 / p172 (0182.jp2)
  54. 参考文献 / p173 (0183.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000091020
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000091242
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000255334
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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