ハーメチックシール接点および応用製品の信頼性に関する研究
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Bibliographic Information
- Title
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ハーメチックシール接点および応用製品の信頼性に関する研究
- Author
-
飯盛, 憲一
- Author(Another name)
-
イイモリ, ケンイチ
- University
-
九州大学
- Types of degree
-
工学博士
- Grant ID
-
乙第5248号
- Degree year
-
1992-09-28
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 / (0007.jp2)
- 第1章 緒論 / p1 (0011.jp2)
- 第2章 信頼性目標と実用化の課題 / p7 (0017.jp2)
- 2.1 信頼性目標 / p7 (0017.jp2)
- 2.2 現状の制御用スイッチの問題点 / p7 (0017.jp2)
- 2.3 信頼性改善と基礎データ / p9 (0019.jp2)
- 2.4 制御用スイッチの問題点と対策のまとめ / p19 (0029.jp2)
- 2.5 技術的課題 / p22 (0032.jp2)
- 第3章 ハーメチックシール接点の設計 / p24 (0034.jp2)
- 3.1 まえがき / p24 (0034.jp2)
- 3.2 ハーメチックシール接点の基本構想 / p24 (0034.jp2)
- 3.3 吸引力特性 / p33 (0043.jp2)
- 3.4 まとめ / p42 (0052.jp2)
- 第4章 不平等磁界中でのハーメチックシール接点の駆動 / p44 (0054.jp2)
- 4.1 まえがき / p44 (0054.jp2)
- 4.2 磁化エネルギー / p44 (0054.jp2)
- 4.3 円筒状空心コイルによる駆動 / p48 (0058.jp2)
- 4.4 永久磁石による駆動 / p52 (0062.jp2)
- 4.5 まとめ / p62 (0072.jp2)
- 第5章 経時劣化要因と信頼性保証 / p63 (0073.jp2)
- 5.1 まえがき / p63 (0073.jp2)
- 5.2 ガラス割れ / p63 (0073.jp2)
- 5.3 ばね熱応力緩和 / p77 (0087.jp2)
- 5.4 まとめ / p86 (0096.jp2)
- 第6章 接触抵抗と接触信頼性 / p88 (0098.jp2)
- 6.1 まえがき / p88 (0098.jp2)
- 6.2 実験方法 / p89 (0099.jp2)
- 6.3 製造工程と接触抵抗 / p91 (0101.jp2)
- 6.4 実験結果 / p93 (0103.jp2)
- 6.5 考察 / p96 (0106.jp2)
- 6.6 まとめ / p104 (0114.jp2)
- 第7章 直流負荷開閉時における接触信頼性 / p105 (0115.jp2)
- 7.1 まえがき / p105 (0115.jp2)
- 7.2 実験の方法 / p106 (0116.jp2)
- 7.3 負荷の種類と故障モード / p106 (0116.jp2)
- 7.4 直流誘導負荷についての考察 / p114 (0124.jp2)
- 7.5 まとめ / p130 (0140.jp2)
- 第8章 磁気近接センサに及ぼすケーブルの影響 / p131 (0141.jp2)
- 8.1 まえがき / p131 (0141.jp2)
- 8.2 ケーブル接続時の突入電流 / p132 (0142.jp2)
- 8.3 ケーブル長さと接点現象 / p136 (0146.jp2)
- 8.4 磁気近接センサによる実負荷開閉寿命試験 / p139 (0149.jp2)
- 8.5 まとめ / p141 (0151.jp2)
- 第9章 信頼性保証と運用信頼性実績 / p142 (0152.jp2)
- 9.1 まえがき / p142 (0152.jp2)
- 9.2 信頼性プログラム / p142 (0152.jp2)
- 9.3 信頼性の作り込み / p143 (0153.jp2)
- 9.4 信頼性の評価と確認 / p145 (0155.jp2)
- 9.5 製品体系 / p152 (0162.jp2)
- 9.6 主要用途での運用信頼性実績 / p154 (0164.jp2)
- 9.7 まとめ / p165 (0175.jp2)
- 第10章 結論 / p166 (0176.jp2)
- 謝辞 / p172 (0182.jp2)
- 参考文献 / p173 (0183.jp2)