薄膜磁気ディスクのトライボロジに関する研究

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著者

    • 柳沢, 雅広 ヤナギサワ, マサヒロ

書誌事項

タイトル

薄膜磁気ディスクのトライボロジに関する研究

著者名

柳沢, 雅広

著者別名

ヤナギサワ, マサヒロ

学位授与大学

慶應義塾大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第2500号

学位授与年月日

1992-07-01

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p1 (0005.jp2)
  3. 第1章 緒論 / p1 (0007.jp2)
  4. 1.1 本研究の目的 / p1 (0007.jp2)
  5. 1.2 本研究の内容 / p3 (0008.jp2)
  6. 第2章 磁気ディスク装置とトライボロジ / p5 (0009.jp2)
  7. 2.1 トライボロジの基本的考え方 / p5 (0009.jp2)
  8. 2.2 薄膜磁気ディスクについて / p9 (0011.jp2)
  9. 2.3 薄膜磁気ディスクの問題点 / p12 (0013.jp2)
  10. 第3章 各章に共通な実験方法 / p13 (0017.jp2)
  11. 3.1 磁気ディスク基板の作製 / p13 (0017.jp2)
  12. 3.2 磁気ヘッド / p14 (0018.jp2)
  13. 3.3 膜厚測定 / p15 (0018.jp2)
  14. 3.4 摩擦力 / p16 (0019.jp2)
  15. 3.5 摩耗率 / p17 (0019.jp2)
  16. 3.6 耐摩耗性試験 / p17 (0019.jp2)
  17. 3.7 臨界表面張力の測定 / p18 (0020.jp2)
  18. 第4章 ゾルゲル法によるSiO₂保護膜の膜形成反応とトライボロジ特性 / p21 (0023.jp2)
  19. 4.1 緒論 / p21 (0023.jp2)
  20. 4.2 実験方法 / p21 (0023.jp2)
  21. 4.3 実験結果および考察 / p23 (0024.jp2)
  22. 4.4 結論 / p25 (0025.jp2)
  23. 第5章 熱酸化NiO保護膜のトライボロジ特性 / p27 (0032.jp2)
  24. 5.1 緒論 / p27 (0032.jp2)
  25. 5.2 実験方法 / p27 (0032.jp2)
  26. 5.3 結果および考察 / p29 (0033.jp2)
  27. 5.4 結論 / p32 (0035.jp2)
  28. 第6章 薄膜の硬度測定装置の開発と保護膜の耐摩耗性評価への応用 / p33 (0042.jp2)
  29. 6.1 緒論 / p33 (0042.jp2)
  30. 6.2 装置構造および測定原理 / p33 (0042.jp2)
  31. 6.3 実験結果 / p36 (0044.jp2)
  32. 6.4 結論 / p38 (0045.jp2)
  33. 第7章 薄膜の疲労測定装置の開発と磁気ディスクに用いる薄膜材料の疲労特性 / p39 (0051.jp2)
  34. 7.1 緒論 / p39 (0051.jp2)
  35. 7.2 測定原理および測定装置の概要 / p39 (0051.jp2)
  36. 7.3 試料の作製 / p41 (0052.jp2)
  37. 7.4 実験結果および考察 / p41 (0052.jp2)
  38. 7.5 結論 / p43 (0053.jp2)
  39. 第8章 薄膜磁気ディスクに必要な潤滑剤の特性 / p45 (0060.jp2)
  40. 8.1 緒論 / p45 (0060.jp2)
  41. 8.2 磁気ディスクの潤滑材料 / p45 (0060.jp2)
  42. 8.3 実験方法 / p47 (0061.jp2)
  43. 8.4 潤滑剤の諸特性 / p48 (0062.jp2)
  44. 8.5 結論 / p52 (0064.jp2)
  45. 第9章 薄膜磁気ディスク上における液体潤滑剤のスピンオフ特性の解析 / p53 (0070.jp2)
  46. 9.1 緒論 / p53 (0070.jp2)
  47. 9.2 理論 / p53 (0070.jp2)
  48. 9.3 実験 / p57 (0072.jp2)
  49. 9.4 結果および考察 / p57 (0072.jp2)
  50. 9.5 結論 / p60 (0074.jp2)
  51. 第10章 総括と結論 / p61 (0083.jp2)
  52. 10.1 研究の成果 / p61 (0083.jp2)
  53. 10.2 本研究の工学的および工業的価値 / p64 (0085.jp2)
  54. 10.3 今後に残された問題 / p65 (0085.jp2)
  55. 付録 / p67 (0086.jp2)
  56. 謝辞 / p71 (0088.jp2)
  57. 引用文献 / p73 (0089.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000091284
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000091508
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000255598
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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