Determination of atomic form factors by means of coherent bremsstrahlung コヒーレント制動放射を用いた原子散乱因子の決定

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著者

    • 飛山, 真理 トビヤマ, マコト

書誌事項

タイトル

Determination of atomic form factors by means of coherent bremsstrahlung

タイトル別名

コヒーレント制動放射を用いた原子散乱因子の決定

著者名

飛山, 真理

著者別名

トビヤマ, マコト

学位授与大学

広島大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

乙第2288号

学位授与年月日

1992-07-27

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p1 (0004.jp2)
  2. 1 Introduction / p4 (0007.jp2)
  3. 2 Coherent Bremsstrahlung / p7 (0010.jp2)
  4. 2.1 Theoretical foundation / p7 (0010.jp2)
  5. 2.2 Dip-bump structures / p12 (0015.jp2)
  6. 2.3 Effect of the atomic form factor / p14 (0017.jp2)
  7. 3 Experimental Set-up / p15 (0018.jp2)
  8. 3.1 General consideration / p15 (0018.jp2)
  9. 3.2 Electron synchrotron / p17 (0020.jp2)
  10. 3.3 Tagging system and electron monitor / p17 (0020.jp2)
  11. 3.4 Target and goniometer / p20 (0023.jp2)
  12. 3.5 Data acquisition methods / p22 (0025.jp2)
  13. 4 Experimental Procedure / p22 (0025.jp2)
  14. 4.1 Check runs / p22 (0025.jp2)
  15. 4.2 Silicon runs / p25 (0028.jp2)
  16. 4.3 Aluminum runs / p26 (0029.jp2)
  17. 5 Results and discussion / p28 (0031.jp2)
  18. 5.1 Theoretical calculation / p28 (0031.jp2)
  19. 5.2 Atomic form factor of silicon crystal / p30 (0033.jp2)
  20. 5.3 Effect of the imperfection of silicon crystal / p36 (0039.jp2)
  21. 5.4 Atomic form factor of aluminum crystal / p38 (0041.jp2)
  22. 5.5 Possible improvement of experimental methods / p42 (0045.jp2)
  23. 6 Conclusion / p43 (0046.jp2)
  24. Determination of Atomic Form Factor of Silicon by Means of Coherent Bremsstrahlung of 1.2-GeV Electrons / p2292 (0069.jp2)
  25. DETECTION OF RECOIL ELECTRONS IN TRIPLET PHOTOPRODUCTION / p144 (0071.jp2)
  26. Conceptual design of a 1.5-GeV x-ray ring / p1713 (0073.jp2)
  27. Suppression of Increase in Impurity in Single-Bunch Mode for the UVSOR Storage Ring / (0076.jp2)
  28. STUDY OF HARD-PHOTON EMISSION FROM 1.2 GeV ELECTRONS IN Si CRYSTAL / p150 (0078.jp2)
  29. Angular distribution of hard photons from 1.2GeV channeling electrons in Si / p1 (0082.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000091623
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000091848
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000255937
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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