超高温プラズマの能動的中性粒子診断法に関する研究

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著者

    • 飛田, 健次 トビタ, ケンジ

書誌事項

タイトル

超高温プラズマの能動的中性粒子診断法に関する研究

著者名

飛田, 健次

著者別名

トビタ, ケンジ

学位授与大学

東北大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第5921号

学位授与年月日

1992-12-09

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 要旨 / p1 (0003.jp2)
  2. 目次 / p3 (0005.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.1 研究の背景 / p1 (0008.jp2)
  5. 1.2 本研究の目的 / p6 (0013.jp2)
  6. 参考文献 / p9 (0016.jp2)
  7. 第2章 JT-60における能動的中性粒子計測系 / p11 (0018.jp2)
  8. 2.1 測定系の構成 / p11 (0018.jp2)
  9. 2.2 分析器の較正実験 / p16 (0023.jp2)
  10. 2.3 まとめ / p20 (0027.jp2)
  11. 参考文献 / p20 (0027.jp2)
  12. 第3章 プラズマ中におけるビームストッピング断面積の測定 / p27 (0034.jp2)
  13. 3.1 はじめに / p27 (0034.jp2)
  14. 3.2 実験の方法 / p29 (0036.jp2)
  15. 3.3 測定結果 / p34 (0041.jp2)
  16. 3.4 考察 / p39 (0046.jp2)
  17. 3.5 結論 / p41 (0048.jp2)
  18. 参考文献 / p42 (0049.jp2)
  19. 第4章 能動粒子線小角散乱法によるプラズマ診断 / p49 (0056.jp2)
  20. 4.1 はじめに / p49 (0056.jp2)
  21. 4.2 測定原理 / p49 (0056.jp2)
  22. 4.3 散乱中性粒子のエネルギースペクトル / p52 (0059.jp2)
  23. 4.4 イオン温度の測定 / p54 (0061.jp2)
  24. 4.5 イオン温度測定における高エネルギーイオン成分の影響 / p60 (0067.jp2)
  25. 4.6 結論 / p63 (0070.jp2)
  26. 参考文献 / p64 (0071.jp2)
  27. 第5章 二電子性荷電交換反応を用いたヘリウムイオンの測定 / p73 (0080.jp2)
  28. 5.1 はじめに / p73 (0080.jp2)
  29. 5.2 測定方法 / p75 (0082.jp2)
  30. 5.3 測定結果 / p79 (0086.jp2)
  31. 5.4 まとめ / p83 (0090.jp2)
  32. 参考文献 / p84 (0091.jp2)
  33. 第6章 能動的中性粒子計測系における寄生現象 / p88 (0095.jp2)
  34. 6.1 観測された寄生現象 / p88 (0095.jp2)
  35. 6.2 寄生現象の解釈 / p90 (0097.jp2)
  36. 6.3 寄生現象の定量的評価 / p93 (0100.jp2)
  37. 6.4 結論 / p96 (0103.jp2)
  38. 参考文献 / p97 (0104.jp2)
  39. 第7章 結言 / p103 (0110.jp2)
  40. 謝辞 / p105 (0112.jp2)
  41. 本研究に関連する主な論文 / p106 (0113.jp2)
  42. 付録 能動粒子線散乱計測のシミュレーションコード「DIAGNO」 / A.1 / (0115.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000091988
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000092213
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000256302
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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