反射光スペクトルによるホワイトシリコーン被膜厚さの線形予測

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著者

    • 岡, 俊男 オカ, トシオ

書誌事項

タイトル

反射光スペクトルによるホワイトシリコーン被膜厚さの線形予測

著者名

岡, 俊男

著者別名

オカ, トシオ

学位授与大学

朝日大学

取得学位

博士 (歯学)

学位授与番号

乙第163号

学位授与年月日

1993-01-20

注記・抄録

博士論文

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000093099
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000093325
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000257413
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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