高分子の部分放電劣化と群小部分放電に関する研究

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著者

    • 石田, 隆弘 イシダ, タカヒロ

書誌事項

タイトル

高分子の部分放電劣化と群小部分放電に関する研究

著者名

石田, 隆弘

著者別名

イシダ, タカヒロ

学位授与大学

豊橋技術科学大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第45号

学位授与年月日

1993-03-10

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文要旨 / p1 (0003.jp2)
  2. 目次 / p1 (0006.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 1.1 本研究の目的と背景 / p1 (0008.jp2)
  5. 1.2 本論文の概要 / p3 (0009.jp2)
  6. 1.3 参考文献 / p4 (0010.jp2)
  7. 第2章 本研究に関するこれまでの研究 / p6 (0011.jp2)
  8. 2.1 まえがき / p6 (0011.jp2)
  9. 2.2 部分放電現象 / p6 (0011.jp2)
  10. 2.3 部分放電による劣化 / p12 (0014.jp2)
  11. 2.4 部分放電の検出法 / p17 (0016.jp2)
  12. 2.5 試験方法 / p22 (0019.jp2)
  13. 2.6 参考文献 / p28 (0022.jp2)
  14. 第3章 部分放電特性解析システム / p33 (0024.jp2)
  15. 3.1 まえがき / p33 (0024.jp2)
  16. 3.2 部分放電検出 / p33 (0024.jp2)
  17. 3.3 部分放電特性解析システムの計測・計算処理 / p41 (0028.jp2)
  18. 3.4 部分放電特性諸量の算出 / p43 (0029.jp2)
  19. 3.5 放電群小率の導入 / p49 (0032.jp2)
  20. 3.6 参考文献 / p52 (0034.jp2)
  21. 第4章 針状ボイド試料の部分放電特性 / p54 (0035.jp2)
  22. 4.1 まえがき / p54 (0035.jp2)
  23. 4.2 試料 / p55 (0035.jp2)
  24. 4.3 実験方法 / p56 (0036.jp2)
  25. 4.4 実験結果 / p57 (0036.jp2)
  26. 4.5 検討 / p61 (0038.jp2)
  27. 4.6 まとめ / p65 (0040.jp2)
  28. 4.7 参考文献 / p66 (0041.jp2)
  29. 第5章 開放ボイド試料の部分放電特性 / p67 (0041.jp2)
  30. 5.1 まえがき / p67 (0041.jp2)
  31. 5.2 試料 / p68 (0042.jp2)
  32. 5.3 実験方法 / p70 (0043.jp2)
  33. 5.4 実験結果 / p71 (0043.jp2)
  34. 5.5 検討 / p75 (0045.jp2)
  35. 5.6 まとめ / p76 (0046.jp2)
  36. 5.7 参考文献 / p77 (0046.jp2)
  37. 第6章 模擬表面劣化の電極依存性 / p79 (0047.jp2)
  38. 6.1 まえがき / p79 (0047.jp2)
  39. 6.2 試料 / p79 (0047.jp2)
  40. 6.3 実験方法 / p81 (0048.jp2)
  41. 6.4 実験結果 / p82 (0049.jp2)
  42. 6.5 検討 / p86 (0051.jp2)
  43. 6.6 まとめ / p88 (0052.jp2)
  44. 6.7 参考文献 / p89 (0052.jp2)
  45. 第7章 模擬表面劣化試料の部分放電特性 / p90 (0053.jp2)
  46. 7.1 まえがき / p90 (0053.jp2)
  47. 7.2 試料 / p90 (0053.jp2)
  48. 7.3 実験方法 / p92 (0054.jp2)
  49. 7.4 実験結果 / p92 (0054.jp2)
  50. 7.5 検討 / p95 (0055.jp2)
  51. 7.6 まとめ / p97 (0056.jp2)
  52. 7.7 参考文献 / p98 (0057.jp2)
  53. 第8章 総轄 / p100 (0058.jp2)
  54. 8.1 本研究により得られた知見 / p101 (0058.jp2)
  55. 8.2 今後の課題と問題点 / p105 (0060.jp2)
  56. 8.3 参考文献 / p106 (0061.jp2)
  57. 謝辞 / p107 (0061.jp2)
  58. 本研究に関する業績 / p108 (0062.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000093168
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000093394
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000257482
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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