オージェ電子分光に基づく金属/セラミックス界面近傍の化学結合状態に関する研究 オージェ デンシ ブンコウ ニ モトヅク キンゾク/セラミックス カイメン キンボウ ノ カガク ケツゴウ ジョウタイ ニ カンスル ケンキュウ

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著者

    • 高橋, 邦夫 タカハシ, クニオ

書誌事項

タイトル

オージェ電子分光に基づく金属/セラミックス界面近傍の化学結合状態に関する研究

タイトル別名

オージェ デンシ ブンコウ ニ モトヅク キンゾク/セラミックス カイメン キンボウ ノ カガク ケツゴウ ジョウタイ ニ カンスル ケンキュウ

著者名

高橋, 邦夫

著者別名

タカハシ, クニオ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第4627号

学位授与年月日

1993-02-03

注記・抄録

博士論文

10514

博士(工学)

1992-02-03

大阪大学

14401甲第04627号

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0004.jp2)
  3. 1.1 金属/セラミックス界面近傍の化学結合状態に関する研究の現状および問題点 / p1 (0004.jp2)
  4. 1.2 本研究の目的および方針 / p4 (0006.jp2)
  5. 第2章 金属/セラミックス界面の化学結合状態に関する予備的検討 / p8 (0008.jp2)
  6. 2.1 熱力学データに基づく界面化学結合状態の分類 / p8 (0008.jp2)
  7. 2.2 電子論的な立場から考えられる界面の化学結合状態 / p10 (0009.jp2)
  8. 2.3 科学結合状態と価電子状態の関係 / p13 (0010.jp2)
  9. 2.4 価電子状態に関する情報の計測手法と問題点 / p16 (0012.jp2)
  10. 2.5 対象材料の選択 / p18 (0013.jp2)
  11. 第3章 界面近傍のオージェ分析手法 / p21 (0014.jp2)
  12. 3.1 オージェ電子分光法(AES)の原理 / p21 (0014.jp2)
  13. 3.2 AESによる価電子状態の分析に影響する諸因子 / p23 (0015.jp2)
  14. 3.3 スペクトルの重畳を回避する方法 / p27 (0017.jp2)
  15. 3.4 AESによる界面近傍の価電子状態分析手法 / p30 (0019.jp2)
  16. 3.5 結言 / p39 (0023.jp2)
  17. 第4章 金属と酸化物セラミックスの界面近傍における化学結合状態 / p40 (0024.jp2)
  18. 4.1 実験方法 / p40 (0024.jp2)
  19. 4.2 界面におけるオージェスペクトルの変遷 / p42 (0025.jp2)
  20. 4.3 科学結合にともなうスペクトル形状の変化 / p46 (0027.jp2)
  21. 4.4 界面近傍の化学結合状態に関する検討 / p50 (0029.jp2)
  22. 4.5 結言 / p59 (0033.jp2)
  23. 第5章 金属と窒化物セラミックスの界面近傍における化学結合状態 / p61 (0034.jp2)
  24. 5.1 実験方法 / p61 (0034.jp2)
  25. 5.2 界面におけるオージェスペクトルの変遷 / p61 (0034.jp2)
  26. 5.3 重畳するスペクトルの分解 / p64 (0036.jp2)
  27. 5.4 界面近傍の化学結合状態に関する検討 / p66 (0037.jp2)
  28. 5.5 結言 / p70 (0039.jp2)
  29. 第6章 金属/セラミックス界面近傍の化学結合状態に関する電子論的考察 / p71 (0039.jp2)
  30. 6.1 化学結合状態のAES分析結果と熱力学データの比較 / p71 (0039.jp2)
  31. 6.2 電子論的検討 / p72 (0040.jp2)
  32. 6.3 従来モデルとの比較および界面を構築する際における材料選択 / p77 (0042.jp2)
  33. 6.4 結言 / p80 (0044.jp2)
  34. 第7章 結論 / p81 (0044.jp2)
  35. 付録1.異核二原子の相互作用に対する単純LCAO近似 / p85 (0046.jp2)
  36. 付録2.金属/セラミックス界面の1電子近似自由電子モデル / p88 (0048.jp2)
  37. 謝辞 / p93 (0050.jp2)
  38. 参考文献 / p94 (0051.jp2)
  39. 本論文に関した発表論文 / p100 (0054.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000093533
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000093759
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000257847
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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