全可観測な環境での論理回路のテスト容易化設計に関する研究 ゼンカカンソク ナ カンキョウ デノ ロンリ カイロ ノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

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著者

    • 温, 暁青 ウェン, シァオチン

書誌事項

タイトル

全可観測な環境での論理回路のテスト容易化設計に関する研究

タイトル別名

ゼンカカンソク ナ カンキョウ デノ ロンリ カイロ ノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

著者名

温, 暁青

著者別名

ウェン, シァオチン

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第4790号

学位授与年月日

1993-03-25

注記・抄録

博士論文

10739

博士(工学)

1993-03-25

大阪大学

14401甲第04790号

目次

  1. 目次 / p3 (0004.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 研究の背景 / p1 (0006.jp2)
  4. 1.2 研究の目的 / p3 (0007.jp2)
  5. 1.3 論文の構成 / p4 (0008.jp2)
  6. 第2章 論理回路のテストとテスト容易化設計 / p7 (0009.jp2)
  7. 2.1 論理回路の概念 / p7 (0009.jp2)
  8. 2.2 論理回路の設計と製造 / p11 (0011.jp2)
  9. 2.3 論理回路のテスト / p12 (0012.jp2)
  10. 2.4 論理回路のテスト容易化設計 / p20 (0016.jp2)
  11. 2.5 まとめ / p24 (0018.jp2)
  12. 第3章 全可観測なテスト環境 / p25 (0018.jp2)
  13. 3.1 電子ビームブローピング技術 / p25 (0018.jp2)
  14. 3.2 全可観測な環境 / p27 (0019.jp2)
  15. 3.3 全可観測な環境でのテストとテスト容易化設計 / p27 (0019.jp2)
  16. 3.4 まとめ / p29 (0020.jp2)
  17. 第4章 全可観測な環境での組合せ回路のテスト / p31 (0021.jp2)
  18. 4.1 k-UCP回路の定義 / p31 (0021.jp2)
  19. 4.2 基本系列 / p33 (0022.jp2)
  20. 4.3 k-UCP回路の故障検出 / p38 (0025.jp2)
  21. 4.4 通常のテスト環境におけるk-UCP回路の故障検出 / p39 (0025.jp2)
  22. 4.5 k-UCP回路概念の拡張 / p45 (0028.jp2)
  23. 4.6 まとめ / p50 (0031.jp2)
  24. 第5章 全可観測な環境での組合せ回路のテスト容易化設計 / p51 (0031.jp2)
  25. 5.1 概説 / p51 (0031.jp2)
  26. 5.2 k-U回路への変換 / p52 (0032.jp2)
  27. 5.3 k-UP回路への変換 / p53 (0032.jp2)
  28. 5.4 k-UC回路への変換 / p53 (0032.jp2)
  29. 5.5 実験結果と考察 / p59 (0035.jp2)
  30. 5.6 まとめ / p60 (0036.jp2)
  31. 第6章 全可観測な環境での順序回路のテスト / p61 (0036.jp2)
  32. 6.1 概説 / p61 (0036.jp2)
  33. 6.2 問題点 / p62 (0037.jp2)
  34. 6.3 k-UCP順序回路 / p63 (0037.jp2)
  35. 6.4 k-UCPスキャン回路 / p65 (0038.jp2)
  36. 6.5 まとめ / p70 (0041.jp2)
  37. 第7章 全可観測な環境での順序回路のテスト容易化設計 / p71 (0041.jp2)
  38. 7.1 k-UCP順序回路への変換 / p71 (0041.jp2)
  39. 7.2 k-UCPスキャン回路への変換 / p73 (0042.jp2)
  40. 7.3 まとめ / p77 (0044.jp2)
  41. 第8章 全可観測な環境での論理回路の故障診断 / p79 (0045.jp2)
  42. 8.1 kーUCP回路の故障診断 / p79 (0045.jp2)
  43. 8.2 ガイディド・プローブ法による故障診断の効率化 / p88 (0050.jp2)
  44. 8.3 まとめ / p101 (0056.jp2)
  45. 第9章 総括 / p103 (0057.jp2)
  46. 謝辞 / p107 (0059.jp2)
  47. 参考文献 / p109 (0060.jp2)
  48. 研究発表一覧表 / p113 (0062.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000093696
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000093922
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000258010
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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