Effects of isoelectronic impurities on the light emission of thin-film electroluminescent devices 薄膜エレクトロルミネッセンス素子の光放射における等電子不純物の効果に関する研究

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著者

    • 孫, 相豪 ソン, サンホウ

書誌事項

タイトル

Effects of isoelectronic impurities on the light emission of thin-film electroluminescent devices

タイトル別名

薄膜エレクトロルミネッセンス素子の光放射における等電子不純物の効果に関する研究

著者名

孫, 相豪

著者別名

ソン, サンホウ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

甲第4840号

学位授与年月日

1993-03-25

注記・抄録

博士論文

10789

博士(理学)

1993-03-25

大阪大学

14401甲第04840号

目次

  1. EFFECTS OF ISOELECTRONIC IMPURITIES ON THE LIGHT EMISSION OF THIN-FILM ELECTROLUMINESCENT DEVICES / p1 (0004.jp2)
  2. CONTENTS / p5 (0006.jp2)
  3. Chapter1.INTRODUCTION / p1 (0007.jp2)
  4. 1-1.Historical background / p1 (0007.jp2)
  5. 1-2.Purpose of this work / p2 (0008.jp2)
  6. References / p6 (0010.jp2)
  7. Chapter2.EXCITATION AND DEEXCITATION PROCESSES IN THIN-FILM ELECTROLUMINESCENT DEVICES / p8 (0011.jp2)
  8. 2-1.Introduction / p8 (0011.jp2)
  9. 2-2.Theoretical approach / p11 (0012.jp2)
  10. 2-3.Results and discussion / p32 (0023.jp2)
  11. Summary / p50 (0032.jp2)
  12. References / p51 (0032.jp2)
  13. Chapter3.CODOPING EFFECTS OF ISOELECTRONIC IMPURITIES ON EMISSIVE CHARACTERISTICS OF THE THIN-FILM ELECTROLUMINESCENT DEVICES / p55 (0034.jp2)
  14. 3-1.Introduction / p55 (0034.jp2)
  15. 3-2 Experiments / p58 (0036.jp2)
  16. 3-3.Effects of isoelectronic impurities on TFELD / p64 (0039.jp2)
  17. 3-4.A model for emissions from thin-film electroluminescent devices / p119 (0066.jp2)
  18. 3-5.Summary / p129 (0071.jp2)
  19. References / p132 (0073.jp2)
  20. Chapter4.BINDING ENERGIES OF ISOELECTRONIC IMPURITIES IN II-VI SEMICONDUCTORS / p137 (0075.jp2)
  21. 4-1.Introduction / p137 (0075.jp2)
  22. 4-2.Impurity potential of isoelectronic impurities / p140 (0077.jp2)
  23. 4-3.Nemerical variational approximation / p145 (0079.jp2)
  24. 4-4.Results and discussion / p153 (0083.jp2)
  25. 4-5.Summary / p161 (0087.jp2)
  26. References / p163 (0088.jp2)
  27. Chapter5.CONCLUSIONS / p165 (0089.jp2)
  28. VITA / p169 (0091.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000093746
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000093972
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000258060
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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