低真空電子ビーム溶接装置の高信頼化に関する研究

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著者

    • 安永, 政司 ヤスナガ, セイジ

書誌事項

タイトル

低真空電子ビーム溶接装置の高信頼化に関する研究

著者名

安永, 政司

著者別名

ヤスナガ, セイジ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第5920号

学位授与年月日

1993-03-02

注記・抄録

博士論文

10549

博士(工学)

1993-03-02

大阪大学

14401乙第05920号

目次

  1. 目次 / (0004.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 低真空電子ビーム溶接装置研究の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 低真空電子ビ-ム溶接装置の研究課題と本研究の意義 / p5 (0007.jp2)
  5. 1.3 本論文の概要 / p15 (0012.jp2)
  6. 第2章 低真空電子ビーム溶接における陰極の消耗現象と陰極の長寿命化 / p18 (0014.jp2)
  7. 2.1 まえがき / p18 (0014.jp2)
  8. 2.2 陰極の消耗に関連する現象 / p18 (0014.jp2)
  9. 2.3 棒状陰極部の設計 / p26 (0018.jp2)
  10. 2.4 棒状陰極加熱の安定性と経時変化 / p34 (0022.jp2)
  11. 2.5 棒状陰極の電子放出特性 / p38 (0024.jp2)
  12. 2.6 棒状熱陰極部の試作と寿命実績 / p40 (0025.jp2)
  13. 2.7 むすび / p46 (0028.jp2)
  14. 第3章 低真空溶接に適した電子光学系の設計 / p47 (0028.jp2)
  15. 3.1 まえがき / p47 (0028.jp2)
  16. 3.2 電子光学系の仕様 / p47 (0028.jp2)
  17. 3.3 電子銃の設計 / p50 (0030.jp2)
  18. 3.4 集束系の設計 / p57 (0033.jp2)
  19. 3.5 偏向系の設計 / p61 (0035.jp2)
  20. 3.6 電子光学カラムの試作 / p69 (0039.jp2)
  21. 3.7 むすび / p77 (0043.jp2)
  22. 第4章 電子ビーム溶接電源の高信頼化 / p78 (0044.jp2)
  23. 4.1 まえがき / p78 (0044.jp2)
  24. 4.2 アーキングの基礎検討 / p78 (0044.jp2)
  25. 4.3 アーキングの実験的考察 / p81 (0045.jp2)
  26. 4.4 高速安定復帰電源システムの提案 / p87 (0048.jp2)
  27. 4.5 高周波高電圧電源システムの試作 / p92 (0051.jp2)
  28. 4.6 むすび / p98 (0054.jp2)
  29. 第5章 EBXD法による溶接線検出 / p99 (0054.jp2)
  30. 5.1 まえがき / p99 (0054.jp2)
  31. 5.2 EBXD(Electron Beam Probe X-ray Detecting)法の提案 / p99 (0054.jp2)
  32. 5.3 X線検出の基本的特性 / p101 (0055.jp2)
  33. 5.4 溶接線検出のS/Nの検討 / p106 (0058.jp2)
  34. 5.5 EBXD法による溶接線検出特性 / p110 (0060.jp2)
  35. 5.6 溶接線検出装置の試作と検出性能 / p114 (0062.jp2)
  36. 5.7 むすび / p120 (0065.jp2)
  37. 第6章 高信頼低真空電子ビーム溶接装置の試作とその応用 / p121 (0065.jp2)
  38. 6.1 まえがき / p121 (0065.jp2)
  39. 6.2 量産小型部品を対象とする溶接装置とその応用 / p121 (0065.jp2)
  40. 6.3 中型構造物を対象とする溶接装置の試作とその応用 / p134 (0072.jp2)
  41. 6.4 大型構造物を対象とする溶接装置の試作とその応用 / p138 (0074.jp2)
  42. 6.5 むすび / p142 (0076.jp2)
  43. 第7章 結論 / p143 (0076.jp2)
  44. 謝辞 / p146 (0078.jp2)
  45. 参考文献 / p147 (0078.jp2)
  46. 本研究に関連する発表文献 / p151 (0080.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000093811
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000094037
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000258125
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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