半導体光検出器の自己校正法による実用測光標準に関する研究

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Author

    • 大野, 義弘 オオノ, ヨシヒロ

Bibliographic Information

Title

半導体光検出器の自己校正法による実用測光標準に関する研究

Author

大野, 義弘

Author(Another name)

オオノ, ヨシヒロ

University

京都大学

Types of degree

博士 (工学)

Grant ID

乙第8145号

Degree year

1993-03-23

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / (0005.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
  4. 1.1 測光標準の沿革 / p1 (0007.jp2)
  5. 1.2 半導体光検出器を用いた放射標準 / p4 (0009.jp2)
  6. 1.3 シリコンホトダイオードの自己校正法の研究経過 / p6 (0010.jp2)
  7. 1.4 本研究の意義と目的 / p8 (0011.jp2)
  8. 1.5 本論文の内容概説 / p9 (0011.jp2)
  9. 第2章 自己校正法による絶対応答度の測定原理と測定方法 / p12 (0013.jp2)
  10. 2.1 原理 / p12 (0013.jp2)
  11. 2.2 空乏層後方領域における再結合損失 / p14 (0014.jp2)
  12. 2.3 SiO₂インタフェース領域における再結合損失 / p16 (0015.jp2)
  13. 2.4 表面反射による損失 / p18 (0016.jp2)
  14. 2.5 その他の損失と誤差要因 / p20 (0017.jp2)
  15. 第3章 自己校正法による可視域の絶対応答度の値付け / p21 (0017.jp2)
  16. 3.1 実験装置 / p21 (0017.jp2)
  17. 3.2 測定サンプル / p22 (0018.jp2)
  18. 3.3 実験方法 / p23 (0018.jp2)
  19. 3.4 各特性の測定結果 / p25 (0019.jp2)
  20. 3.5 絶対応答度の確度の検討 / p29 (0021.jp2)
  21. 3.6 自己校正に適する特性条件の検討 / p31 (0022.jp2)
  22. 3.7 絶対応答度の国際比較 / p33 (0023.jp2)
  23. 3.8 総括 / p41 (0027.jp2)
  24. 第4章 自己校正法に基づく測光標準の値付け / p43 (0028.jp2)
  25. 4.1 測光量値付けの原理 / p43 (0028.jp2)
  26. 4.2 4波長における絶対応答度の自己校正 / p45 (0029.jp2)
  27. 4.3 可視域全域の絶対分光応答度の補間 / p47 (0030.jp2)
  28. 4.4 測光標準受光器の試作 / p49 (0031.jp2)
  29. 4.5 V(λ)フィルタの見かけの分光透過率の測定 / p52 (0033.jp2)
  30. 4.6 応答度の値付けと不確かさの検討 / p55 (0034.jp2)
  31. 4.7 公的標準との比較 / p56 (0035.jp2)
  32. 4.8 総括 / p60 (0037.jp2)
  33. 第5章 白色光を用いたシリコンホトダイオードの自己校正法の理論 / p62 (0038.jp2)
  34. 5.1 概念 / p62 (0038.jp2)
  35. 5.2 基本式の導出 / p63 (0038.jp2)
  36. 5.3 式の近似による系統誤差 / p67 (0040.jp2)
  37. 5.4 自己校正用白色光源の分光分布の違いによる系統誤差 / p71 (0042.jp2)
  38. 5.5 その他の誤差要因 / p73 (0043.jp2)
  39. 5.6 総括 / p73 (0043.jp2)
  40. 第6章 白色光を用いたシリコンホトダイオードの自己校正法の実験検討 / p75 (0044.jp2)
  41. 6.1 実験装置と方法 / p75 (0044.jp2)
  42. 6.2 実験結果 / p78 (0046.jp2)
  43. 6.3 実用測光標準受光器の試作と値付け / p82 (0048.jp2)
  44. 6.4 標準電球の光度測定実験 / p85 (0049.jp2)
  45. 6.5 受光器の温度特性 / p87 (0050.jp2)
  46. 6.6 総括 / p95 (0054.jp2)
  47. 第7章 ホトダイオード表面反射率測定法の検討 / p97 (0055.jp2)
  48. 7.1 概要 / p97 (0055.jp2)
  49. 7.2 透明板を用いた表面反射率測定方法の原理 / p98 (0056.jp2)
  50. 7.3 白色光を用いた自己校正法への適用 / p100 (0057.jp2)
  51. 7.4 測定精度の検討 / p103 (0058.jp2)
  52. 7.5 実験検討 / p105 (0059.jp2)
  53. 7.6 総括 / p107 (0060.jp2)
  54. 第8章 結論 / p109 (0061.jp2)
  55. 謝辞 / p112 (0063.jp2)
  56. 参考文献 / p113 (0063.jp2)
4access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000094251
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000094477
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000258565
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections

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