X線の細束化に関する研究
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著者
書誌事項
- タイトル
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X線の細束化に関する研究
- 著者名
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古田, 啓
- 著者別名
-
フルタ, ケイ
- 学位授与大学
-
立命館大学
- 取得学位
-
博士 (理学)
- 学位授与番号
-
乙第138号
- 学位授与年月日
-
1993-03-27
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 / (0003.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
- 1.1 本論文の背景 / p1 (0005.jp2)
- 1.2 本研究の目的と本論文の構成 / p2 (0006.jp2)
- 第2章 X線光学 / p5 (0007.jp2)
- 2.1 軟X線顕微鏡 / p6 (0008.jp2)
- 2.2 硬X線マイクロビーム / p22 (0016.jp2)
- 第3章 X線の分散理論 / p26 (0018.jp2)
- 3.1 媒質の誘電率の一般解 / p27 (0018.jp2)
- 3.2 複素誘電率 / p29 (0019.jp2)
- 3.3 複素屈折率 / p31 (0020.jp2)
- 3.4 X線の吸収と分散理論 / p32 (0021.jp2)
- 3.5 原子散乱因子の古典的考察 / p37 (0023.jp2)
- 3.6 原子散乱因子の波動力学的考察 / p40 (0025.jp2)
- 3.7 X線の全反射 / p44 (0027.jp2)
- 3.8 反射率の実験値と理論値 / p48 (0029.jp2)
- 第4章 実験 / p52 (0031.jp2)
- 4.1 実験装置 / p53 (0031.jp2)
- 4.2 通過率の測定 / p60 (0035.jp2)
- 4.3 ビーム･プロファイル / p64 (0037.jp2)
- 第5章 通過率の計算 / p68 (0039.jp2)
- 5.1 モンテカルロ法を用いた理論計算 / p69 (0039.jp2)
- 5.2 数値積分法による理論計算 / p76 (0043.jp2)
- 5.3 二つの理論計算の信頼性 / p89 (0049.jp2)
- 第6章 研究結果と考察 / p90 (0050.jp2)
- 6.1 実験結果と理論結果 / p90 (0050.jp2)
- 6.2 透過X線の効果 / p95 (0052.jp2)
- 6.3 σSのエネルギー依存性 / p96 (0053.jp2)
- 6.4 数値積分法による理論結果 / p97 (0053.jp2)
- 第7章 結論 / p102 (0056.jp2)
- 謝辞 / p104 (0057.jp2)
- 参考文献 / p105 (0057.jp2)