X線の細束化に関する研究

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著者

    • 古田, 啓 フルタ, ケイ

書誌事項

タイトル

X線の細束化に関する研究

著者名

古田, 啓

著者別名

フルタ, ケイ

学位授与大学

立命館大学

取得学位

博士 (理学)

学位授与番号

乙第138号

学位授与年月日

1993-03-27

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 本論文の背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 本研究の目的と本論文の構成 / p2 (0006.jp2)
  5. 第2章 X線光学 / p5 (0007.jp2)
  6. 2.1 軟X線顕微鏡 / p6 (0008.jp2)
  7. 2.2 硬X線マイクロビーム / p22 (0016.jp2)
  8. 第3章 X線の分散理論 / p26 (0018.jp2)
  9. 3.1 媒質の誘電率の一般解 / p27 (0018.jp2)
  10. 3.2 複素誘電率 / p29 (0019.jp2)
  11. 3.3 複素屈折率 / p31 (0020.jp2)
  12. 3.4 X線の吸収と分散理論 / p32 (0021.jp2)
  13. 3.5 原子散乱因子の古典的考察 / p37 (0023.jp2)
  14. 3.6 原子散乱因子の波動力学的考察 / p40 (0025.jp2)
  15. 3.7 X線の全反射 / p44 (0027.jp2)
  16. 3.8 反射率の実験値と理論値 / p48 (0029.jp2)
  17. 第4章 実験 / p52 (0031.jp2)
  18. 4.1 実験装置 / p53 (0031.jp2)
  19. 4.2 通過率の測定 / p60 (0035.jp2)
  20. 4.3 ビーム・プロファイル / p64 (0037.jp2)
  21. 第5章 通過率の計算 / p68 (0039.jp2)
  22. 5.1 モンテカルロ法を用いた理論計算 / p69 (0039.jp2)
  23. 5.2 数値積分法による理論計算 / p76 (0043.jp2)
  24. 5.3 二つの理論計算の信頼性 / p89 (0049.jp2)
  25. 第6章 研究結果と考察 / p90 (0050.jp2)
  26. 6.1 実験結果と理論結果 / p90 (0050.jp2)
  27. 6.2 透過X線の効果 / p95 (0052.jp2)
  28. 6.3 σSのエネルギー依存性 / p96 (0053.jp2)
  29. 6.4 数値積分法による理論結果 / p97 (0053.jp2)
  30. 第7章 結論 / p102 (0056.jp2)
  31. 謝辞 / p104 (0057.jp2)
  32. 参考文献 / p105 (0057.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000094743
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000094969
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000259057
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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