薄膜磁気記録媒体の腐食防食に関する研究

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著者

    • 井上, 陽一 イノウエ, ヨウイチ

書誌事項

タイトル

薄膜磁気記録媒体の腐食防食に関する研究

著者名

井上, 陽一

著者別名

イノウエ, ヨウイチ

学位授与大学

長岡技術科学大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第28号

学位授与年月日

1993-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. -目次- / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 緒言 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 コンピューター用磁気ディスク装置の変遷と技術動向 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 薄膜磁気記録媒体の開発動向とその課題 / p3 (0007.jp2)
  5. 1.3 薄膜磁気記録媒体の腐食信頼性に関する研究課題 / p4 (0008.jp2)
  6. 1.4 まとめ / p8 (0012.jp2)
  7. 1.5 参考文献 / p9 (0013.jp2)
  8. 第2章 付着塵埃による薄膜媒体の腐食 / p18 (0022.jp2)
  9. 2.1 序論 / p18 (0022.jp2)
  10. 2.2 大気塵埃による影響 / p19 (0023.jp2)
  11. 2.3 模擬塵埃による腐食実験 / p21 (0025.jp2)
  12. 2.4 薄膜の腐食メカニズムについての考察 / p22 (0026.jp2)
  13. 2.5 標準粒子を用いた新腐食評価法の提案 / p24 (0028.jp2)
  14. 2.6 まとめ / p25 (0029.jp2)
  15. 2.7 参考文献 / p26 (0030.jp2)
  16. 第3章 腐食性ガスによる薄膜媒体の腐食 / p32 (0036.jp2)
  17. 3.1 序論 / p32 (0036.jp2)
  18. 3.2 腐食性ガス環境下における腐食 / p34 (0038.jp2)
  19. 3.3 新評価法の提案 / p39 (0043.jp2)
  20. 3.4 表面抵抗法の特徴 / p42 (0046.jp2)
  21. 3.5 まとめ / p43 (0047.jp2)
  22. 3.6 参考文献 / p43 (0047.jp2)
  23. 第4章 電気化学的手法による評価 / p52 (0056.jp2)
  24. 4.1 序論 / p52 (0056.jp2)
  25. 4.2 電気化学測定装置の試作 / p53 (0057.jp2)
  26. 4.3 薄膜媒体の分極測定 / p57 (0061.jp2)
  27. 4.4 腐食形態の計測 / p60 (0064.jp2)
  28. 4.5 考察 / p63 (0067.jp2)
  29. 4.6 まとめ / p64 (0068.jp2)
  30. 4.7 参考文献 / p65 (0069.jp2)
  31. 第5章 耐腐食環境向上化の検討 / p75 (0079.jp2)
  32. 5.1 序論 / p75 (0079.jp2)
  33. 5.2 静電容量センサによるディスク表面水分量の計測 / p76 (0080.jp2)
  34. 5.3 磁気ディスク装置内の湿度制御の検討 / p84 (0088.jp2)
  35. 5.4 まとめ / p96 (0100.jp2)
  36. 5.5 参考文献 / p96 (0100.jp2)
  37. 第6章 記録媒体保護膜の防食性向上(イオン注入による保護膜の改質) / p110 (0114.jp2)
  38. 6.1 序論 / p110 (0114.jp2)
  39. 6.2 実験方法 / p111 (0115.jp2)
  40. 6.3 実験結果 / p113 (0117.jp2)
  41. 6.4 考察 / p120 (0124.jp2)
  42. 6.5 まとめ / p124 (0128.jp2)
  43. 6.6 参考文献 / p125 (0129.jp2)
  44. 第7章 結言 / p134 (0138.jp2)
  45. 7.1 環境と材料とから見た薄膜磁気ディスクの腐食現象 / p134 (0138.jp2)
  46. 7.2 薄膜磁気記録媒体の腐食評価法の提案 / p137 (0141.jp2)
  47. 7.3 防食性向上化技術の提案 / p138 (0142.jp2)
  48. 7.4 磁気ディスク装置の変遷と今後の課題 / p139 (0143.jp2)
  49. 謝辞 / p142 (0146.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000094807
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000095033
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000259121
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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