粒子ビーム入射装置の高機能化

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著者

    • 松岡, 守 マツオカ, マモル

書誌事項

タイトル

粒子ビーム入射装置の高機能化

著者名

松岡, 守

著者別名

マツオカ, マモル

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

甲第2778号

学位授与年月日

1993-03-25

注記・抄録

博士論文

名古屋大学博士学位論文 学位の種類:博士(工学) (課程) 学位授与年月日:平成5年3月25日

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 粒子ビーム入射装置の現在の状況 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 粒子ビーム入射装置の原理 / p1 (0005.jp2)
  5. 1.3 本研究の意義、目的とその構成 / p7 (0008.jp2)
  6. 付録 JT-60、DIII-Dトカマク実験装置とこれらの中性粒子ビーム入射装置 / p13 (0011.jp2)
  7. 参考文献 / p23 (0016.jp2)
  8. 第2章 NBI用加速電源の高性能化 / p24 (0017.jp2)
  9. 2.1 序言 / p24 (0017.jp2)
  10. 2.2 過渡電圧制御機能付きGTOスイッチを用いたNBI用加速電源の開発 / p29 (0019.jp2)
  11. 2.3 二段加速イオン源の第二正電極電圧安定性 / p47 (0028.jp2)
  12. 2.4 イオン源加速電極の放電破壊に対する新しい保護方法 / p52 (0031.jp2)
  13. 2.5 結言 / p56 (0033.jp2)
  14. 参考文献 / p57 (0033.jp2)
  15. 第3章 NBI用の能動的な磁気遮蔽システムの開発 / p59 (0034.jp2)
  16. 3.1 序言 / p59 (0034.jp2)
  17. 3.2 JT-60NBIにおける漏洩磁界の分布と能動的磁気遮蔽の設計 / p61 (0035.jp2)
  18. 3.3 縮小モデルによる磁界測定とビーム軌道/熱負荷計算 / p68 (0039.jp2)
  19. 3.4 打消しコイル電源の設計 / p79 (0044.jp2)
  20. 3.5 試験結果 / p83 (0046.jp2)
  21. 3.6 結言 / p87 (0048.jp2)
  22. 付録 JT-60Uの許容誤差磁界と接線NBIに受動的な磁気遮蔽を採用した場合の磁気島 / p88 (0049.jp2)
  23. 参考文献 / p91 (0050.jp2)
  24. 第4章 ビームエネルギー時間制御システムの開発 / p92 (0051.jp2)
  25. 4.1 序言 / p92 (0051.jp2)
  26. 4.2 ビームエネルギー時間制御における変量 / p96 (0053.jp2)
  27. 4.3 偏向磁界の応答 / p100 (0055.jp2)
  28. 4.4 ビームエネルギー時間制御のためのプレプログラム / p107 (0058.jp2)
  29. 4.5 試験結果 / p112 (0061.jp2)
  30. 4.6 考察 / p117 (0063.jp2)
  31. 4.7 結言 / p120 (0065.jp2)
  32. 付録(4.1)式の導出 / p121 (0065.jp2)
  33. 参考文献 / p123 (0066.jp2)
  34. 第5章 照射位置で一様なビーム強度を得るためのビームレット偏向の最適化 / p126 (0068.jp2)
  35. 5.1 序言 / p126 (0068.jp2)
  36. 5.2 ビームレット偏向の最適化問題の定式化 / p128 (0069.jp2)
  37. 5.3 最適なビームレット偏向の数値計算結果 / p133 (0071.jp2)
  38. 5.4 考察 / p137 (0073.jp2)
  39. 5.5 結言 / p140 (0075.jp2)
  40. 参考文献 / p140 (0075.jp2)
  41. 第6章 低エネルギーNBIを用いたトカマク周辺プラズマ内の負の径電界の誘起 / p142 (0076.jp2)
  42. 6.1 序言 / p142 (0076.jp2)
  43. 6.2 径電界誘起のための必要条件 / p144 (0077.jp2)
  44. 6.3 考察 / p148 (0079.jp2)
  45. 6.4 結言 / p150 (0080.jp2)
  46. 参考文献 / p150 (0080.jp2)
  47. 第7章 総括 / p152 (0081.jp2)
  48. 7.1 本研究のまとめ / p152 (0081.jp2)
  49. 7.2 今後の展望と課題 / p154 (0082.jp2)
  50. 参考文献 / p156 (0083.jp2)
  51. 謝辞 / p158 (0084.jp2)
  52. 発表論文 / p159 (0084.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000095763
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000095989
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000260077
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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