残留電圧を利用した高分子絶縁材料の放射線劣化診断に関する基礎研究

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著者

    • 山中, 三四郎 ヤマナカ, サンシロウ

書誌事項

タイトル

残留電圧を利用した高分子絶縁材料の放射線劣化診断に関する基礎研究

著者名

山中, 三四郎

著者別名

ヤマナカ, サンシロウ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第4364号

学位授与年月日

1993-02-18

注記・抄録

博士論文

名古屋大学博士学位論文 学位の種類:博士(工学) (論文) 学位授与年月日:平成5年2月18日

目次

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0005.jp2)
  3. 1.1 本研究の目的と背景 / p1 (0005.jp2)
  4. 1.2 本論文の概要 / p22 (0016.jp2)
  5. 第1章の参考文献 / p23 (0016.jp2)
  6. 第2章 注入電荷により発生する残留電圧 / p27 (0018.jp2)
  7. 2.1 緒言 / p27 (0018.jp2)
  8. 2.2 試料および実験方法 / p27 (0018.jp2)
  9. 2.3 実験結果 / p28 (0019.jp2)
  10. 2.4 検討 / p34 (0022.jp2)
  11. 2.5 結言 / p43 (0026.jp2)
  12. 第2章の参考文献 / p44 (0027.jp2)
  13. 第3章 配向分極により発生する残留電圧 / p47 (0028.jp2)
  14. 3.1 緒言 / p47 (0028.jp2)
  15. 3.2 残留電圧の解析方法 / p47 (0028.jp2)
  16. 3.3 試料および実験方法 / p50 (0030.jp2)
  17. 3.4 実験結果および検討 / p50 (0030.jp2)
  18. 3.5 結言 / p59 (0034.jp2)
  19. 第3章の参考文献 / p60 (0035.jp2)
  20. 第4章 γ線照射ポリエチレンの残留電圧 / p63 (0036.jp2)
  21. 4.1 緒言 / p63 (0036.jp2)
  22. 4.2 試料および実験方法 / p63 (0036.jp2)
  23. 4.3 実験結果 / p65 (0037.jp2)
  24. 4.4 検討 / p65 (0037.jp2)
  25. 4.5 結言 / p73 (0041.jp2)
  26. 第4章の参考文献 / p74 (0042.jp2)
  27. 第5章 酸化防止剤添加ポリエチレンの電気的特性と酸化量の評価 / p75 (0042.jp2)
  28. 5.1 緒言 / p75 (0042.jp2)
  29. 5.2 試料および実験方法 / p75 (0042.jp2)
  30. 5.3 実験結果および検討 / p76 (0043.jp2)
  31. 5.4 結言 / p88 (0049.jp2)
  32. 第5章の参考文献 / p89 (0049.jp2)
  33. 第6章 充塡剤添加EPRの電気的特性と放射線照射効果 / p91 (0050.jp2)
  34. 6.1 緒言 / p91 (0050.jp2)
  35. 6.2 試料および実験方法 / p91 (0050.jp2)
  36. 6.3 実験結果 / p93 (0051.jp2)
  37. 6.4 検討 / p100 (0055.jp2)
  38. 6.5 結言 / p115 (0062.jp2)
  39. 第6章の参考文献 / p116 (0063.jp2)
  40. 第7章 実用配合EPDMの残留電圧による放射線劣化診断 / p119 (0064.jp2)
  41. 7.1 緒言 / p119 (0064.jp2)
  42. 7.2 試料および実験方法 / p119 (0064.jp2)
  43. 7.3 実験結果および検討 / p121 (0065.jp2)
  44. 7.4 結言 / p127 (0068.jp2)
  45. 第7章の参考文献 / p127 (0068.jp2)
  46. 第8章 総括 / p129 (0069.jp2)
  47. 8.1 本研究から得られた主な知見 / p130 (0070.jp2)
  48. 8.2 本研究の工学的な意義 / p132 (0071.jp2)
  49. 謝辞 / p135 (0072.jp2)
  50. 本研究に関する業績 / p136 (0073.jp2)
2アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000095870
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000096096
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000260184
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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