強電離および弱電離プラズマの電流による不安定性

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著者

    • 秋津, 哲也 アキツ, テツヤ

書誌事項

タイトル

強電離および弱電離プラズマの電流による不安定性

著者名

秋津, 哲也

著者別名

アキツ, テツヤ

学位授与大学

京都大学

取得学位

博士 (工学)

学位授与番号

乙第8225号

学位授与年月日

1993-05-24

注記・抄録

博士論文

本文データは平成22年度国立国会図書館の学位論文(博士)のデジタル化実施により作成された画像ファイルを基にpdf変換したものである

新制・論文博士

乙第8225号

論工博第2715号

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / p4 (0006.jp2)
  3. 序文 / p1 (0004.jp2)
  4. 目次 / p4 (0006.jp2)
  5. 第一部 有限βプラズマ中の広帯域アルベーン不安定性 / p1 (0007.jp2)
  6. 1.序論 / p1 (0007.jp2)
  7. 2.実験装置 / p3 (0008.jp2)
  8. 3.電流駆動広帯域アルベーン不安定性 / p26 (0020.jp2)
  9. 4.電流駆動ドリフト・アルベーン不安定性 / p44 (0029.jp2)
  10. 5.プラズマ中の電気抵抗の非一様性に起因する磁気流体波不安定性―アルベーン不安定の広帯域化― / p61 (0037.jp2)
  11. 6.結論 / p65 (0039.jp2)
  12. Appendix A ドリフト・アルベーン不安定性 / p67 (0040.jp2)
  13. Appendix B 磁気プローブの検出感度の周波数特性 / p75 (0044.jp2)
  14. 参考文献 / p76 (0045.jp2)
  15. 第二部 負イオンを含む弱電離プラズマ中における電離不安定性 / p79 (0046.jp2)
  16. 1.序論 / p79 (0046.jp2)
  17. 2.低気圧SFe₆中の電離不安定性 / p81 (0047.jp2)
  18. 3.He-SF₆混合気体中の放電の減衰過程における電離不安定性 / p104 (0059.jp2)
  19. 4.低気圧CF₄放電の減衰過程における電離不安定性の観測 / p110 (0062.jp2)
  20. 5.電子付着に起因する負の微分電気伝導度による電流駆動不安定性 / p115 (0064.jp2)
  21. 6.結論 / p119 (0066.jp2)
  22. Appendix A 収縮した放電陽光柱における多極性拡散 / p121 (0067.jp2)
  23. Appendix B 負の散逸項の効果 / p126 (0070.jp2)
  24. Appendix C SF₆中の電子ドリフト速度 / p128 (0071.jp2)
  25. 参考文献 / p129 (0071.jp2)
  26. 付録 禁制遷移をともなうHe I 447.1 nmのシュタルクプロフィールによる高密度Heプラズマの電子密度測定 / p133 (0073.jp2)
  27. 1.序論 / p133 (0073.jp2)
  28. 2.実験装置の構成 / p135 (0074.jp2)
  29. 3.He-Neレーザ干渉測定 / p141 (0077.jp2)
  30. 4.分光測定 / p148 (0081.jp2)
  31. 5.結論 / p158 (0086.jp2)
  32. Appendix 分光測定系の波長感度特性 / p159 (0086.jp2)
  33. 参考文献 / p160 (0087.jp2)
  34. 謝辞 / (0088.jp2)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000096208
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000096434
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000260522
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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